产品展示
优质供应
详细内容
S mart的重量约只有S neox的一半(6kg),加上紧凑的外观使的它在安装上有更多选择,例如可以直接在生产在线安装做分析等。一般来说,在生产的环境中通常都会有震动或有害物质污染等因素而不适合放置量测仪器,但S mart在开发时已经考虑这些因素,一体成形的设计使得它能承受外部污染或震动影响。
虽然S mart体积较于S neox小,但是同样保留了白光干涉、相位差干涉、共聚焦(Confocal)、多重聚焦四大功能,在光源部分同样采用LED光,客户可以自行弹性选择要460nm、530nm、630nm或白光等波段。
Sensofar融合共聚焦和干涉技术让设备同时拥有了粗糙度量测、三维形貌及薄膜厚度测量等功能,正是因为这种在全独特的技术融合,让S mart光学轮廓仪的性价比远高于其他同类型的设备。
S mart将显微图像、共聚焦图像、共聚焦轮廓、相位差干涉(PSI)、白光干涉(VSI)和高分辨率的薄膜厚度测量的功能集于一体。这种基于利设计的Microdisplay技术,简明易学的软件接口使您只需要选对镜头,正确对焦并选好测量方式就能快速准确地获得所需的信息。
西班牙Sensofar品牌简介
Sensofar是西班牙的一家技术公司,成立于2001年,总部位于西班牙科技中心巴塞罗那附近的塔拉萨(Terrassa)。公司通过战略合作伙伴构成全球网络,在超过20 个国家设有代表处,始终遵循的技术、卓越的质量和优质客户服务的宗旨。
Sensofar公司注于研发非接触式3D光学表面测量技术,致力于开发、制造和供应高端3D光学轮廓测量设备,并提供3D测量技术域内的咨询服务。Sensofar公司创造性的将共聚焦技术与干涉仪技术融为一体,因此融合了这两种三维测量技术的优越性:即具备三维共聚焦的高横向分辨率,又具备三维干涉技术的亚纳米垂直精度。Sensofar持续不断地研发和申请表面测量利技术,在全球范围内创造了数百种表面形貌测量应用产品。在高精度3D光学测量技术方面,拥有深厚的技术实力和技术优势。。