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原位MEMS-STM-TEM多场测量系统
点击次数：155发布时间：2024/5/30 10:09:12
更新日期：2024/10/29 15:32:09
所 在 地：中国大陆
产品型号：PicoFemto
优质供应
详细内容
PicoFemto原位MEMS-STM-TEM多场测量系统
PicoFemto原位MEMS-STM-TEM多场测量系统，原位透射电子显微镜实验系统，使研究者可以在透射电子显微镜中构建一个可控的多场环境（包括力、热、光、电等）
PicoFemto原位MEMS-STM-TEM多场测量系统，该产品是原位透射电子显微镜实验系统，使研究者可以在透射电子显微镜中构建一个可控的多场环境（包括力、热、光、电等），从而对材料或者器件等样品实现多重激励下的原位表征。
性能指标
透射电镜指标：
● 兼容指定电镜型号及靴；
● 可选双倾版本，双倾电学测量样品杆Y轴倾角±25°（同时受限于靴间距）；
电学测量指标：
● 包含一个电流电压测试单元；
● 电流测量范围：１ nA-30 mA，9个量程；
● 电流分辨率：优于100 fA；
● 电压输出范围：普通模式±10 V，高压模式±150 V；
● 自动电流-电压（I-V）测量、电流-时间（I-t）测量，自动保存。
扫描探针操纵指标：
● 粗调范围：XY方向2.5 mm，Z方向1.5 mm；
● 细调范围：XY方向18 um，Z方向1.5 um；
● 细调分辨率：XY方向0.4 nm，Z方向0.04 nm。
光纤指标：
● 多模光纤外径250 um，保证电镜系统真空指标；
● 可选光纤探针、平头光纤；
● 配备快速SMA接头、FC接头；
加热指标：
● 温度范围：室温到1000 ℃；
● 温度准确度优于 5% ；
● 温度稳定性：优于±0.1 ℃。
应用场景
可通过简单更换MEMS芯片种类以及不同STM探针为样品施加至多四种激励，实现多种复杂的测试功能，完成以往无法实现的研究。
（1）高温拉伸/压缩（加热芯片+电学STM探针）；
（2）热电子发射/场发射（加热芯片+电学STM探针）；
（3）三端器件测量（电学芯片+电学STM探针）；
（4）电致发光现象研究（电学芯片+光学STM探针）；
（5）光电现象研究（电学芯片+光学STM探针）。
产品特色
稳定性高
轻松获得大幅度运动中的高分辨像，适用于更广泛的应用场景和样品体系。
很长的寿命
利技术（利种类：实用新型（具备高分辨多维操纵和电学测量的电子显微镜原位样品杆） 利号：202020944865 .4）的“爪-球”结构探针杆因其独特的结构设计，是公认皮实耐用的探针杆。
很低维护成本
设备配套的针尖制备系统可低成本制备针尖耗材。”爪-球“微动结构已实现模块化量产，维护成本低。
很大的用户群
在国内拥有近200个高质量原位用户，出口到欧美澳等地。每年，用户会产出大量高质量研究成果。定期组织各类用户交流活动，搭建学术平台供用户交流。
成熟的技术支持网络
在安徽、北京、东莞和上海拥有分公司，其他各地拥有若干技术支持网点，24小时提供技术支持。
