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S mart的重量约只有S neox的一半(6kg)，加上紧凑的外观使的它在安装上有更多选择，例如可以直接在生产在线安装做分析等。一般来说，在生产的环境中通常都会有震动或有害物质污染等因素而不适合放置量测仪器，但S mart在开发时已经考虑这些因素，一体成形的设计使得它能承受外部污染或震动影响。感受3D体验，Sensofar 3D光学轮廓仪，为您展现全新的3D立体形貌
全新设计的3D光学轮廓仪S neox颠覆传统，将共聚焦、干涉和多焦面叠加技术融于一身，测量头内无运动部件。
全自动光学轮廓仪S neox能够测量不同的材质，结构，表面粗糙度和波度，几乎涵盖所有类型的表面形貌。它的多功能性能够满足广泛的高端形貌,测量应用。Sensofar的核心是将3种测量方式融于体，确保了其卓越的性能。配合SensoSCAN软件系统，用户将获得难以置信的直观操作体验。
SENSOFAR公司作为共聚焦干涉显微镜的发明者，开创性地将共聚焦和干涉技术结合在起，无需插拔任何硬件就可以在软件内自动实现共聚焦、白光干涉和相位差干涉模式的切换。使客户无需花费高昂的费用就能同时拥有共聚焦显微镜和干涉仪。
SENSOFAR在1999年创立之初，就是以三维表面形貌测量为主要研发方向，通过持续不断地研发和申请利技术，在全球范围内创造了数百种表面形貌测量应用产品，积累了丰富的技术实力。
虽然S mart体积较于S neox小，但是同样保留了白光干涉、相位差干涉、共聚焦(Confocal)、多重聚焦四大功能，在光源部分同样采用LED光，客户可以自行弹性选择要460nm、530nm、630nm或白光等波段。
Sensofar融合共聚焦和干涉技术让设备同时拥有了粗糙度量测、三维形貌及薄膜厚度测量等功能，正是因为这种在全独特的技术融合，让S mart光学轮廓仪的性价比远高于其他同类型的设备。
S mart将显微图像、共聚焦图像、共聚焦轮廓、相位差干涉（PSI）、白光干涉（VSI）和高分辨率的薄膜厚度测量的功能集于一体。这种基于设计的Microdisplay技术，简明易学的软件接口使您只需要选对镜头，正确对焦并选好测量方式就能快速准确地获得所需的信息。
