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如果您想要研究晶体结构，偏光显微镜将是您的zui佳选择。无论是矿物和接合剂，我们的偏光显微镜都能帮助您观察到感兴趣的内容，完成您的研究或质量保证任务。
获得zui优结果
您需要一些组件来实现偏光研究目标。以下都是重要的组件：
无应力光学部件，因为您需要确保观测到的双折射来自样品而非光学部件
LED 照明至关重要，因为这种照明能够均匀照亮样品，并具有恒定的色温
偏光镜帮助您看到双折射，旋转台帮助您对准样品和光轴
您还需要用于对光轴进行锥光观察的勃氏镜和用于测量任务的补偿器
恰到好处的照明！
LED 照明可在多个方面为您节省资金：它比卤素照明消耗的能源少，而且无需更换，不会导致机器停机，使用寿命长达 25,000 小时。更多优势：
LED 为样品提供均匀照明，色温恒定，为您提供真实的样品形貌
LED 可快速调整光强，让您的工作顺畅无阻
LED 无需日光滤镜，因为它已经提供了 4500 K 恒定光温
LED 产生的热量少，因此无需冷却风扇
LED 可帮助您营造安静无干扰的工作环境，因为没有冷却风扇在周围产生噪音
让物镜转盘来应对！
采用配备 6 个物镜并具有不同放大倍率的物镜转盘，获取丰富的样品信息。
使用 2.5 倍概览物镜可识别样品中的宏观结构
如要借助锥光法对光学属性进行详尽研究，可切换为 63 倍放大倍率
切换至 100 倍可以沿颗粒边界检验相反应
而且物镜转盘也是编码的，可为您提供智能支持。
两种照明物尽其用
您可以将 Leica DM4 P 配置为 LED 照明使用透射光或入射光，或者也可以一次性将其配置为使用两种光源。
进行反射率测量时必须使用入射光，例如观察矿石或煤炭。
进行双折射测量时则需要使用透射光，例如检测地质薄片、聚合物薄膜或药品。
在地质研究等特殊应用中，两种光都必不可少。
当显微镜配置为使用入射光和透射光两种光时，相关物镜 (带或不带盖玻片校正功能) 应从 >10 倍的放大倍率开始使用。
研究光学属性
锥光法用于研究干涉图。这些图的形状和由补偿器进行的修改可以生成有关调查材料光学属性方面的信息。您可以测定材料的光轴数量、光轴角度和光学特性。
Leica DM4 P 非常理想地适用于锥光法：
具有高放大倍率和高数值孔径的无应力物镜是该项应用的必备条件。
使用特殊 63 倍徕卡物镜，能满足偏振等 5 的高要求，从而获取优异结果。
超强灵活性：Leica DM2700 P
如果您不需要全自动化和高可再现性，Leica DM2700 P 就是您的zui佳仪器选择。除自动化以外，它还能提供毫不逊色于 Leica DM4 P 的灵活性。
在 5 位可调中物镜转盘上使用 5 个物镜获取准确无误的样品信息
在 22-mm 视场中获得大概览图
借助入射光观测的 UC-3D 照明，获得效果更佳的对比度
您的选择：Leica DM2700 产品配置
坚固的支架和直观的功能是成功完成日常普通和高任务的关键。
高度模块化
UC-3D 照明
彩色编码的光圈辅助
5 位可调中物镜转盘
2 档或 3 档调焦驱动器
顶部调焦限位
LED 照明
锥光学模块范围广泛
无应力光学部件
360° 旋转台，带或不带 45° 卡位装置
偏光设备范围广泛
固定或可变补偿器，符合 DIN 58879
