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流线型桌面式的ContourX系列,配备**白光干涉模块、快速自动聚焦和自动亮度调节、手动样品台及倾斜控制
具备性价比的ContourX-100光学轮廓仪为精确的、可重复的、非接触式表面测量树立了新基准。该系统占地面积小,所采用的简化方案融合了布鲁克几十年的白光干涉(WLI)创新技术,具有强大的二维/三维高分辨测量能力。新一代增强功能包括**的5MP摄像头和更新平台,实现更多缝合功能,并新增一个测量模式USI,提升了精加工表面、厚膜和摩擦学应用测量时的便捷性和灵活性。ContourX-100堪称性价比的台式系统。
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Z向分辨率
提供不受放大率影响的一致的**测量。
准确
计量值
简化设计,不影响测量功能。
友好
软件界面
提供对大量预编程过滤器和分析程序的直接调用。
特点
**计量能力
白光干涉所有物镜均提供恒定的*佳垂直分辨率。
ContourX-100轮廓仪是布鲁克40多年来在非接触式表面计量、表征和成像领域专有光学创新和行业领导力的结晶。该系统利用三维WLI和二维成像技术,一次采集可执行多次分析。ContourX-100在反射率0.05%到100%的所有表面情况下都能发挥稳定性能。
****的价值和分析
ContourX-100手动平台。
ContourX-100台式可执行数千种自定义分析,并采用布鲁克简单而强大的VisionXpress和Vision64用户界面,提升了实验室和工厂的生产效率。软硬件的完美结合,实现简便操作下的高效率光学性能,**超越同类计量技术。