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产品展示

三维光学轮廓仪ContourX-200

点击次数:172发布时间:2024/8/1 9:41:42

三维光学轮廓仪ContourX-200

更新日期:2024/10/29 15:32:09

所 在 地:中国大陆

产品型号:ContourX-200

简单介绍:ContourX-200 光学轮廓仪提供了**表征能力、可选定制配件、和使用方便三者的完美融合,是同类产品中*快、*准确、可重复性的非接触式三维表面计量系统。该计量系统占地面积小,采用更大视场、5MP 数码摄像头和**电动 XY 工作台,具有**的二维/三维高分辨测量能力。

优质供应

详细内容

ContourX家族中的高效能台式光学轮廓仪,配备自动XYZ样品台,**查找表面功能,拼接及大范围成像功能

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ContourX-200光学轮廓仪提供了**表征能力、可选定制配件、和使用方便三者的完美融合,是同类产品中*快、*准确、可重复性的非接触式三维表面计量系统。该计量系统占地面积小,采用更大视场、5MP数码摄像头和**电动XY工作台,具有**的二维/三维高分辨测量能力。ContourX-200拥有**的Z轴分辨率和精确度,具备布鲁克专有白光干涉(WLI)技术广受业界认可的所有优势,而且不存在传统共聚焦显微镜和同类普通光学轮廓仪的局限性。

自动化

能力

可实现更快测量和分析速度的程序。

电动

XY工作台

实现低噪声高速定量计量。

耐振动

紧凑设计

提供稳定、可重复的测量。

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特点

同类*佳计量技术

ContourX-200光学轮廓仪依托40多年的WLI自主创新成果,可满足定量计量所需的低噪声、高速、准确度和精确度。通过使用多种物镜和图案识别,可以亚纳米垂直分辨率在多个视场跟踪特征,为多个行业的质量控制和过程监控应用提供不受尺寸大小影响的结果。ContourX-200在反射率0.05%到100%的所有表面情况下都能发挥稳定性能。新增硬件特点包括为获取更大拼接而创新设计的工作台;一只5MP摄像头,采用1200x1000测量阵列,实现低噪声、更大视场和更高横向分辨率。

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白光干涉所有物镜均提供恒定的*佳垂直分辨率。

*广泛的应用分析能力

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轮廓X-200电动级。

ContourX-200采用强大的VisionXpress和Vision64用户界面,提供数千种自定义分析以提升实验室和工厂的效率。布鲁克**通用扫描干涉(USI)测量模式可提供全自动、自感知表面纹理、优化信号处理,同时对所分析的表面形貌执行*准确、*实际的计算。该系统采用新款摄像头,扩大了视场,加上新型电动XY工作台具有的灵活性,提升了处理多种样品和零部件时的灵活性和效率。软硬件的完美结合,实现**的光学性能,**超越同类计量技术。

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联系人:邱经理

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企业档案

  • 会员类型:免费会员
  • 工商认证: 【已认证】
  • 最后认证时间:
  • 法人:
  • 注册号:
  • 企业类型:经销商
  • 注册资金:人民币501万

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