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镀层厚度测量仪FT110A
点击次数：85发布时间：2021/6/17 9:54:41
更新日期：2022/10/8 19:32:59
所 在 地：日本
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优质供应
详细内容
微束XRF涂层厚度和材料分析仪，方便快速进行质量控制和验证测试，在几内即可获得准确的数据。
基于X-光荧光的涂层厚度和材料分析是业内广泛接受认可的分析方法，提供易于使用、快速和无损的分析，几乎不需要样本制备，能够分析元素周期表上从13Al 到92U 的固体或液体样品。
参数：
正比计数器系统
元素范围：钛 - 铀
样品舱设计：开闭式或开槽式
XY 轴样品台选择： 开闭式固定台、开闭式程控台、开槽式固定台、开槽式程控台
大样品尺寸：500 x 400 x 150 毫米
大数量准直器：4
滤光片：初 1，二（可选）1
小的准直器：0.05 毫米
X-ray Station 软件
深圳市矢量科学仪器有限公司致力于研发，生产及销售高校科研实验、工业开发、生产测试检测类仪器设备的供应商。
主营产品有：半导体行业整套设备方案、晶体生长设备、真空设备、实验室分析仪器、材料方向设备及成套方案、增材制造设备、生理化设备、电子测试类通用仪器仪表及非标自动化测试方案等。为全球高校、科研院所、企业提供精准到位的实验分析、测试及检测方案。
目公司主要代理国内外知名品牌仪器设备，非标自动化系统业务主要针对客户具体测试、检测及实验要求，精准的给出整套解决方案。目与清华大学深圳研究生院、上海交通大学、中科院安徽光学精密机械研究所、深圳大学、武汉大学等建立起校企联合合作。
