YC-620

益测研发 用心设计

主机YC-620

【简介】

    2015年CES大展上，Intel联合USB实施者论坛向公众展示了USB 3.1的威力，具体搭配的接口是USB Type C，能够正反随便插，大小也与micro-USB相差无几。理论上，USB 3.0 Type C的传输速度能够达到10Gbps。 

   Type-C是USB接口的一种连接介面，不分正反两面均可插入，大小约为8.3mm×2.5mm，和其他介面一样支持USB标准的充电、数据传输、显示输出等功能。Type-C由USB Implementers Forum制定，在2014年获得苹果、谷歌、英特尔、微软等厂商支持后开始普及。

   随着Type-C接口的普及，对Type-C数据线的需求日益增多，我们适时推出这款用的测试仪器，用于产品量产检测用，以帮助广大厂商提高生产效率，控制好产品质量。

【功能特点】

1、 采用32位ARM高速处理器设计。

2、 支持带芯片的Type-C数据线测试。

3、 支持各种版本Type-C转接线的测试，Type-C转Type-C、Type-C转USB3.0 A公、Type-C转USB3.0 A母、Type-C转USB2.0 A公、Type-C转USB3.0 A母。

4、 支持Ra、Rd、Rp电阻的测试。

5、 支持E-MARKER芯片的检测。

6、 因为Type-C有多条电源线，仪器可以单独检测每一条电源线是否接通，也可以设定部分接通即可通过。

7、 测试线材内阻、漏电阻（绝缘电阻）并根据设定参考值判定是否合格。

8、 LCD显示屏。

9、 显示正插、反插。

10、  同时有声音和LED指示测试结果。

11、   可以连接电脑，有PC软件，实现更多功能，也可单独使用。

12、   电脑软件界面支持多种皮肤。

13、   可以在线升固件，使设备拥有新的功能。

【支持产品种类】

Type-C转A母（USB2.0或3.0）

【主机图】

注意：Type-C数据线本身是不分主从的，但是我们为了测试方便以及更好地区分测试结果，人为把它分为主端、从端，插到主端测试板的插头叫主端，插到从端测试板的插头叫从端。

【Type-C接口定义】

一条完整的Type-C数据线原理图：

   注意USB3.0的信号线是交叉的，有多条电源线。

 说明：

说明：

电源线：Type-C有多条电源线。

1、 可以单独设定每一条电源线的电阻。

2、 可以设定多条电源线并联的内阻。

3、 可以指定只要有部分电源线连通就可以测试通过。

USB2.0线（D+、D-)：充电器上D+、D-线有不同的连接方式，以设置充电方式和电流大小，特别是现在QC2.0充电器还使用D+、D-切换输出电压，所以D+、D-漏电阻不能过小，否则实际使用中可能影响到充电器对D+、D-的识别。

本仪器可以测出D+、D-的漏电阻（绝缘电阻），理论上D+、D-与其它线路是绝缘的，但实际产品由工艺的原因，可能会与其它线路产生漏电阻，漏电阻过小会影响数据通信，也可能改变充电器的分压值影响充电速度，如果只考虑不影响数据通信可以设为20K，如果要考虑不影响充电器的分压值，要设成200-300K。

USB3.0,TX1,RX1、USB3.1，TX2，RX2、SBU、CC：内阻建仪设成2Ω，漏电阻20K。

CC线：是用于与E-Marker芯片通信的线，两头都有连接，并且根据产品种类接Rp或Rd，低配置的线是没有E-Marker芯片的，Rp和Rd可以根据下表设定，一般用红线内的值。

主B5(Vconn)、从B5(Vconn)：Vconn是用来给E-Marker芯供电的，并且用于识别插入方向，如果用E-Marker芯片，内部会接一个Ra（800-1200Ω）电阻到地，如果不用E-Marker芯片，Vconn一般是悬空的。

主端E-Marker、从端E-Marker：分别从两端检测E-Marker芯片，E-Marker芯片目只检测基本的通讯是否OK，不核对芯片上的数据。

主端屏蔽线、从端屏蔽线：是指数据线插头外壳连接方式，一般悬空或接GND。

特殊选项：针对个别产品所做的特殊测试方法。

自动启动测试：指满足一定条件，仪器自动开始一次测试，比如检测到被测电压、仪器有输出电流时启动一次测试，如果选择仪器有输出电流时启动，则上面的“仪器输出方式”必须选为“一直输出”，否则不可能产生输出电流，另外可以随时按仪器上“OK”键启动一次测试。

启动时间：指启动测试的反应时间，选择快则可以响应用户快速插拔，有些线材方案输出电压不稳定则应选择慢速，避免仪器反复启动测试。

【按键定义】

TEST：测试键，按一下测试一次。可以在软件里设置为自动测试，就是插入时自动测试一次，如果需要再测，按“Test”键。

SET：选择测试文件。

DOWN：向下查询键，当有多条错误信息时，按此键查看。

UP：向上查询键，当有多条错误信息时，按此键查看。

 【问题及故障解决】

1、 如果连续测试出错，请注意是否是由于插头接不量引起，产量大，测试插座使用率高，会过早引起插座损坏。

2、 测试时避免手触碰到转接板上的电路，否则会影响测试结果。

3、 本仪器只对上面所列项目进行测试，用户在使用过程中可能因参数设置不同而产生不一样的结果，比如设置内阻参考值过小，仪器可能将产品判为NG，但数据线可能正常使用。所以要根据产品标准合理设定。

4、 测试通过数据线在使用过程中还可能因为使用环境条件恶劣而不能正常使用，比如有的芯片在低温下无法工作。

5、 有些数据线本身不稳定，有虚焊或软故障，也会造成误测，比如在出厂测试时是OK的，经过运输过程受到挤压造成脱焊损坏。

【应用图集】

实拍效果图