UCK精密测长仪采用进口超高精度光栅、超精密研磨导轨、双向恒测力系统和软件控制系统技术，实现待测件各参数的高精度测量。超高精密研磨导轨确保了测量的高稳定性及直线度，采用超高精度光栅测量系统确保了数据的准确性和可靠性，由电脑软件将数据与测量平台、电子连续可调测力系统、温度传感器温度和光栅采集数据进行计算分析得出各被测件的数据，并测量量程达到0-500/1000mm，主要用于实验室检测量块(0.5-1000mm)、光面环规(直接测量5-200mm，比较测量20-700mm)、光面塞规(500mm)、螺纹环规(M5-M200mm)、螺纹塞规(M200mm)、卡规(500mm)、量棒(1000mm)、针规尺类、表类等器具。