报道：德国 PVA 超声波扫描显微镜SAM 302 HD2的技术特点#技术新闻_技术文章

可根据样品的翘曲情况（5-6mm以内），在扫描过程中实时调整焦距:即 Z 轴一边快速扫描，一边实时自动改变 Z 轴探头的上下对焦位置，使得探头对于检测位置始终处于聚焦状态，从而保证整个样品的扫描图像完整性；不会出现因样品翘曲无法扫描到或者图像灰度值不一样的情况；
X / Y 轴均为超高性能线性马达，双马达，且内置磁力机构，配合光栅尺精确定位
后双探头架构，可后同时 C 扫描，2 倍于单探头扫描效率；
一一后每个探头大 C 扫描范围≥ 320 x 320 mm
扫描速度：大2,000 mm/s - 可手动或自动调整速度，平均可用1500mm/s;
XY 轴机械重复精度 ±0.05um
ADC卡采样频率 5G/，带散热风扇；
自动聚焦：不仅具有表面自动对焦功能，同时还可对样品内部任意界面自动对焦；在用户需要重复检测同一种类样品时，即使样品摆放有一定的高度误差，设备可以自动对焦到所设定的界面，操作人员不需要每次扫描将对焦位置重新校准，只需要直接扫描即可。
主要扫描模式：A-Scan（点扫描）、B-Scan（纵向扫描）、C-Scan（横向扫描）、X-Scan （多层断层C扫描）、多重门限扫描、T-Scan (透射扫描)-选项、High Quality-高清晰扫描、表面跟踪扫描、Z-Scan实体扫描模式（虚拟再生扫描功能）、多重区域扫描下包括托盘矩阵扫描、 Z变换扫描（探测扫描）、顺序扫描（序列扫描）、预扫描、自动扫描、分频扫描、覆盖扫描、插值扫描模式等
图像分辨率小: 大 32,000 x 32,000 像素, 精度小0.5um像素;
在输入扫描面积和每个像素的分辨尺寸后，软件自动计算图像分辨率;
定量测量功能：
X -Y 长度计算；厚度与距离测量；胶厚测量；可根据样品的实际轮廓（圆形，矩形，不规则形）对检测界面、焊接界面质量进行缺陷面积百分比统计分析，样品扫描后可采用鼠标选择扫描范围后提供缺陷尺寸列表并输出报告（可显示所有孔洞尺寸、面积等信息，分析区域的孔洞率、大孔洞尺寸、面积等），点击列表中任一行可显示该缺陷在扫描图像上的 X/Y 区域，便于进一步分析和定位缺陷；可进行表面平整度测试，显示样品表面3D形貌图并计算高度差异等；
配置高分辨率 DTS 动态透射装置：透射接收探头 40MHz f=16mm 或 40MHz f=12.7mm可选；使用者可以像 C-扫描反射探头一样对该透射接收探头进行软件调焦，透射图像甚至可以和C-扫描的分辨率相媲美；DTS 高分辨率动态透射扫描装置
除软件滤波功能外，同时配置外置滤波器，可有效消除杂波，提供更小信噪比的半波，提高有用的信号波形增益，同时又使得波形变成比较窄（带宽比较小）和干净，从而提高扫描图像的分辨率，使得扫描的图像更清晰，软件开关控制；
软件操作界面可根据用户使用习惯或业术语，自行命名（中英文切换）；

原创作者：深圳市科时达电子科技有限公司

企业档案

已获得易推广信誉 等级评定

技术文章

报道：德国 PVA 超声波扫描显微镜SAM 302 HD2的技术特点#技术新闻

相关信息

相关产品

已获得易推广信誉等级评定