您好,欢迎来到易推广 请登录 免费注册

  • 高级会员服务
  • |
  • 广告位服务
  • |
  • 设为首页
  • |
  • 收藏本站
  • |
  • 企业档案

    • 会员类型:初级版会员
    • 易推广初级版会员:3
    • 工商认证【已认证】
    • 最后认证时间:
    • 注册号: 【已认证】
    • 法人代表: 【已认证】
    • 企业类型:经销商 【已认证】
    • 注册资金:人民币100万 【已认证】
    • 产品数:480

深圳市科时达电子科技有限公司 主营产品:电子材料,半导体仪器设备,医疗设备三大产品领域的,是一家集研发,制造,为一体的企业我们的主营业务涉及了研发及加工电子材料及周边产品,电子光电产品设备研发组装及,半导体仪器设备,国内贸易,货物及技术进出口,医疗器械研发及,医用耗材及医疗用品的等

易推广认证请放心拨打

13510161192

当前位置: 易推广 > 环境监测 > 采样器 > 大气颗粒物采样器 > 深圳市科时达电子科技有限公司 > 产品展示 > 四探针面扫描电阻率 CDE resmap 178

四探针面扫描电阻率 CDE resmap 178

价格:¥电议

品牌名称:$brandModel.Title(进口品牌)型号: 原产地:中国大陆 发布时间:2022/2/14 15:17:38更新时间:2024/11/17 7:57:04

产品摘要:美国CreativeDesignEngineering,简称“CDE”,成立于,位于美国加州硅谷的库比蒂诺-Cupertino,CDE公司专注于四探针设备的生产和销售,累计销量达1000台以上,遍布世界各大半导体Fab,太阳能光伏企业,大学及科研机构,“CDE”是四探针领域的领导品牌。

产品完善度: 访问次数:163

企业档案

会员类型:初级版会员

已获得易推广信誉   等级评定
8成长值

(0 -40)基础信誉积累,可浏览访问

(41-90)良好信誉积累,可接洽商谈

(91+  )优质信誉积累,可持续信赖

易推广初级版会员:3

工商认证 【已认证】

最后认证时间:

注册号: 【已认证】

法人代表: 【已认证】

企业类型:经销商 【已认证】

注册资金:人民币100万 【已认证】

产品数:480

参观次数:262435

手机网站:http://m.yituig.com/c162928/

商铺地址:http://www.szkesda.com

分光光度计

探针台

扫描仪

能谱仪

X射线衍射仪

旋光仪

激光粒度仪

纳米压痕仪

流变仪

消解系统

磁学测量系统

振动样品磁强计

氮化炉

研磨仪

色谱仪

真空泵

质譜仪

光刻胶

电子束刻蚀系统

椭偏仪

分析仪

成像仪

光谱仪

显微镜和扫描电镜

岛津

高压蒸汽灭菌器

喷雾干燥仪

切片机

老化试验箱

聚对二甲苯涂层系统

化学气相沉积

生物/生命科学

沉积机

半导体辅助工艺材料

半导体检测仪器

等离子清洗机

晶圆清洗机晶圆检查机

UV解胶机

晶圆贴片贴膜机

解胶机

去胶机

显影仪/喷涂机

涂覆仪

匀胶机/热版机

离子刻蚀

镀膜沉积机

光刻机

详细内容

产品详情

美国Creative Design Engineering, 简称CDE,成立于1995年,位于美国加州硅谷的库比蒂诺 - Cupertino, CDE公司专注于四探针设备的生产和销售,累计销量达1000台以上,遍布世界各大半导体Fab, 太阳能光伏企业,大学及科研机构,CDE是四探针领域的领导品牌

CDE的使命是开发和制造生产价值的,高性能,成本低为半导体制计量产品及相关行业

CDE已制造并交付了超过1000 resmap电阻率测试系统,大约24%用于 300mm测量。*近,该公司已交付的太阳能电池的开发和生产支持多个单位

CDE是位于硅谷的心脏地带提供世界范围内的销售和服务代表网络支持。


特点简述:
CDE ResMap的特点如简述如下: * 高速稳定及自动决定范围量测与传送,通过性高 * 数字测量方式及每点高达4000笔数据搜集,表现良好重复性及再现性 * Windows 操作接口及软件操作简单 * 新制程表现佳铜制程低电阻率1.67mΩ-cmImplant高电阻2KΩ/□以上,皆可达成高精确度及重复性) * 体积小,占无尘室面积少 * 校正简单,且校正周期长 * 可配合客户需求,增强功能与适用性 * 300mm 机种可以装2~4个量测头,并且可以Recipe设定更换.

CDE 提供自动计算机量测的四点探针阻值量测机台。快速,精确与软件控制下针、软件功能可*佳化下针压力,即使薄片量测也不易破裂。自动清针(Probe Conditioning);动作,双针头切换。太阳能使用可支持自动Loader300mm 机台可使用Front End,*多扩充3个量测单元,支持Semi标准接口。
CDE ResMap–CDE 公司生产之电阻值测试系统是以四探针的工艺,以配合各半导体成光伏生产厂家进出之生产品质监控,超卓可靠又简易操作的设备是半导体及光伏生产厂家不可缺少的。



美国CDE公司的四探针/方块电阻/电阻率测试设备:178(*普及型号)

测量尺寸:晶圆尺寸:2-8寸(273系列可测量大至12寸晶圆,575系列可测量大至450mm 18寸晶圆)世界首款!

              方形片:大至156mm X 156mm125mm X 125mm

· 测量范围: 0.001欧姆/平方 至 500000欧姆/平方(标准型)

· 测量方式: 电脑程序自动测量,或不连电脑单测量主机也可实现测量和数据显示,此时非常适合测试不规整样片单点测量,适合实际研究需要。

· 测量的数据: 方块电阻/电阻率/薄膜厚度,根据具体应用可以设置不同测量程序。

· 测量的点数: 程序编排任意测量点位置及测量点数量,对应不同客户不同测量要求任意编程测量点位置与数量。

· 测量的精确度:<0.1% (标准模阻);

· 测量重复性重复性≤ ±0.02% (静态或者标准电阻)

· 测量速度>49点/分钟;

· 测量数据处理:根据需要显示2D,3D数值图,或按要求统计并输出Excel格式文件;

· 边缘修正:具有边缘修正功能,即片子边缘1.5mm以内区域都能测量;

· 软件控制下针:快速,精确与软件控制下针、软件功能可*佳化下针压力,即使薄片量测也不易破裂。自动清针(Probe Conditioning);动作,双针头切换。

· 探针压力可调范围软件控制,90-200克之间可调;

· 可供选择的探头类型:根据测试不同工艺要求有A, B,K, M, N等相关型号探头选择,另外还可提供专门为客户定制的应用特殊要求的探针.

· 太阳能使用可支持自动Loader300mm 机台可使用Front End,*多扩充3个量测单元,支持Semi标准接口。

· 设备应用

IC FAB/FP dispaly/LED:扩散,离子注入等掺杂工艺监控调试,薄膜电阻率或厚度测量等工序,如

Apple ADL Engineering, Inc.ADL Engineering, Inc.Air ProductsAixtron, Inc.Amkor

Amkor Technology Singapore Holding Pte. LtdApplied Materials, Inc.ASE

ASM Microchemistry Ltd.ATMIAtotechAvantor Performance Materials

Beijing NMC Co., Ltd.ChipBond ChipMOS Clarkson University

Fujimi CorporationISMI Giraffe Microelectronics Co. Ltd. (Qinghua University)

Hionix Hynix IBM Inter molecular

JiangSu Lam Research Lam Research SEZ/Aus

Leading Precision, Inc Maxim Integrated Products

MEMC Northrop Grumman PacTech

Powertech Technology Inc. Siltronic Samsung Wafer Pte. Ltd.

Siltronic Spansion SPIL SUMCO TEL NEXX, Inc.TSMC University of California

Intel,IBMMotorolaTSMCCSMC,Applied Materials,Sematech,Linear Technology,Tokyo Electronics,Delco Electronics,Lite-On Power,Goldstar,Korea Electronics,Posco Huls,SGS-Thomson,CarborundumCodeon,TRW Space&Electronics,Dynamic Research,EKC Technology,Hughes Aircraft,International Rectifier,LG Display,Semitech,Winbond,,Osram,...




热门标签: 四探针面扫描电阻率 CDE resmap 178 

中国彩虹热线

快速导航

在线咨询

提交