能够完成下述实验内容：

光电技术方面实验

1、光敏电阻特性参数及其测量；

2、光敏电阻伏安特性实验；

    3、光敏电阻的变换电路；

4、光敏电阻时间响应特性；

5、光电二管光照灵敏度的测量；

6、光电二管伏安特性的测量；

7、光电二管时间响应特性的测量；

8、硅光电池在不同偏置状态下的特性参数及其测量；

9、测量硅光电池在反向偏置下的时间响应；

10、光电三管光照灵敏度的测量；

11、光电三管伏安特性的测量；

12、光电三管时间响应的测量；

13、光电三管光谱特性的测量；

14、光电耦合器电流传输比的测量；

15、光电耦合器件伏安特性的测量；

16、光电耦合器件时间相应的测量；

17、热释电器件基本原理实验；

18、热释电器件光谱响应的测试实验；

19、PSD位移传感器特性参数的测量；

20、四象限光电传感特性实验；

21、雪崩光电二管（APD）特性实验；

22、PIN光电二管特性实验；

23、紫外线探测传感器特性参数测量实验；

24、紫外线强度测量实验；

25、紫外线验钞机原理实验 ；

26、线阵CCD驱动系统设计实验；

27、太阳能电池特性实验；

28、光电测距实验；

29、光电调制实验；

光电检测技术实验

1、线阵CCD 原理与驱动特性

2、线阵CCD 输出特性的测量

3、利用线阵CCD 进行物体外形尺寸的测量

4、线阵CCD 的A/D 数据采集

5、用软件提取边缘信号的二值化

6、利用线阵CCD 测量物体的倾斜角度

7、条形码的测量与识别实验

8、用线阵CCD 测量物体的振动

9、利用线阵CCD 进行图像扫描

10、光栅与莫尔条纹实验；

11、面阵CCD原理与驱动实验；

12、利用面阵CCD测量物体外形尺寸；

13、利用面阵CCD提取物体的边缘与轮廓；

14、利用面阵CCD进行图像采集与参数设置；

15、利用面阵CCD进行投影与差影图像分析；

16、利用面阵CCD进行图像的滤波与增强；

17、利用面阵CCD进行形态学处理；

18、利用面阵CCD进行物体的旋转与缩放；

19、利用面阵CCD对颜色识别；

20、利用面阵CCD进行图像信息的点运算；

21、利用面阵CCD进行图像的几何变换；

22、利用面阵CCD进行数据采集实验；

（一）二次开发实验（52单片机开发实验）

1、52单片机程序编写实验；

2、52单片机电路设计实验；

    3、基于52单片机的数字时钟设计实验；

（二）CPLD应用技术方面的实验

1、编写与设计时钟逻辑电路实验；

2、编写与设计2160像元的线阵CCD驱动电路实验；

3、编写与设计线阵CCD二值化数据采集系统逻辑电路；