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G系列是博曼具性价比的一款机型。该机型机构紧凑，没有可移动部件。与博曼其他系列不同，该系列X射线照射方式采用自下往上式。用户可将样品放置在一个清晰的测试窗口上，并使用相机对图像进行定位。G系列的样品仓较小，可手动调整样品位置测量样品，该系列主要应用于珠宝和其他贵金属行业的镀层分析与应用。
G系列标准配置包括一个固定准直器，一个固定焦距的相机，固态PIN探测器和质量可靠的微聚焦X射线管。与其他型号一样，该型号也可升为包括多个准直器，可变焦点相机和SDD探测器。
博曼G系列可满足以下类型用户的需求：
- 样品测试量相对较小
- 客户或供应商对于镀层提出了新要求
- 主要分析珠宝或其他贵金属
- 预留摆放空间小
- 预算有限
博曼G系列产品参数：
| 类别 | 参数 |
| 元素测量范围： X射线管： 探测器： 分析层数及元素数： 滤波器/准直器： 焦距： 数字脉冲器： 计算机：
相机： 电源： 重量： 马达控制/可编程XY平台： 延伸可编程XY平台： 样品仓尺寸： 外形尺寸： | 13号铝元素到92号铀元素 50 W（50kV和1mA）微聚焦钨钯射线管 190eV及以上分辨率的Si-PIN固态探测器 5层，每层可分析10种元素，成分分析多可分析25种元素 4位置一次过滤器/双规格准直器 激光单定焦距 4096 多通道数字处理器，自动死时间和逃逸峰校正 英特尔, 酷睿 i5 3470 处理器 (3.2GHz), 8GB DDR3 内存, 微软 Windows 10 业版, 64位 1 / 4"CMOS-1280×720 VGA分辨率 150W，100-240V，频率范围为47Hz至63Hz 25kg 不可用 不可用 高度：125mm（5"），宽度：380mm（15"），深度：300mm（12"） 高度：400mm（16"），宽度：400mm（16"），深度：380mm（15"） |
关于美国博曼：
美国博曼（Bowman）是高精度台式镀层测厚仪供应商，拥有近40年的行业经验。博曼XRF系统搭载拥有自主知识产权的镀层检测技术和的软件系统，可精准高效地分析金属镀件中元素厚度和成分。博曼XRF系统可同时测量包含基材在内的五层元素，其中任何两层元素可以是合金。同时，博曼XRF系统也可以测量高熵合金（HEAs）。
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