产品描述

InSEM HT高温测试系统可在真空环境中对压头和样品分别独立进行加热，并与许多SEM/FIB工作室或独立真空工作室兼容。 系统温度可高达800°C，因而可以模拟现场端温度条件，以获得可靠一致的测试数据。钼支架上的单晶碳化钨压头经过优化，可用于高温测试应用，并可提供多种几何形状。

主要功能

• InForce 50驱动器，压头可加热，用于电容位移测量，并配有电磁启动的可互换探头

• 样品可升温至800°C，采用10mm样品尺寸和真空兼容的样品安装系统

• InQuest高速控制器电子设备，具有100kHz数据采集速率和20μs时间常数

• 用于样本定位的XYZ移动系统

• SEM视频捕获，可以将SEM图像和测试数据进行同步

• 独特的软件集成压头校准系统，可实现快速，准确的压头校准

• 与Windows®10兼容的InView控制和数据查看软件以及协助用户设计实验的方法开发功能

主要应用

• 高温测试

• 硬度和模量测量（Oliver-Pharr）

• 连续刚度测量

• 高速材料性质分布

• 蠕变测量

• 应变率灵敏度

工业应用

• 大学、研究实验室和研究所

• 航空航天

• 汽车制造业

• 硬涂层

• 核能

• 军事/国防

应用