• 测量元素范围：钠（Na）到铀（U）
• 元素含量分析范围：ppm—99.99%
• 同时分析元素：次性可测几十种元素
• 测量时间：60秒-200秒
• 测量对象状态：粉末、固体、液体
• 应用领域：检测以铜合金、铁合金、镍合金为主的任何合金类产品
• 测量状态：抽真空式

EDX4500H合金分析仪

产品简介

EDX 4500H X荧光光谱仪是利用XRF检测原理实现对各种元素成份进行快速、、无损分析。

该仪器的主要特征是利用智能真空系统，可对Si、P、S、Al、Mg等轻元素具有良好的激发效果，利用XRF技术可对高含量的Cr、Ni、Mo等重点关注的元素进行分析，在冶炼过程控制中起到了测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率的作用。

另外，在合金分析、元素分析、有害元素检测应用上也十分广泛。

EDX4500H合金分析仪

产品优势

超薄窗X光管，指标达到际水平

新的数字多道技术，让测试更快，计数率达到100000CPS，精度更高。在合金检测中效果更好

SDD硅漂移探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比

低能X射线激发待测元素，对Si、P等轻元素激发效果好

智能抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的范围

自动稳谱装置了仪器工作的致性

高信噪比的电子线路单元

针对不同样品自动切换准直器和滤光片，免去手工操作带来的繁琐

解谱技术使谱峰分解，使被测元素的测试结果具有相等的分析精度

多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制

内置高清晰摄像头

液晶屏显示让仪器的重要参数（管压、管流、真空度）目了然

优良的数据稳定性，同样品不同的时间段分析，可获得良好的数据致性

体积小、重量轻， 移动安装方便

高集成度、高性、高稳定性 

EDX4500H合金分析仪

主要优点

可测定包括痕量碳（C），磷（P）,硫（S）元素,适用于多种金属基体，如：铁基，铝基，铜基，镍基，铬基，钛基，镁基，锌基，锡基和铅基。谱技术覆盖了元素分析范围，可根据客户需要选择通道元素

分析速度快捷，30秒-200秒测完所有通道的元素成分。针对不同的分析材料，通过设置预燃时间及标线，使仪器用短的时间达到优的分析效果

光学系统采用真空恒温光室， 激发时产生的弧焰由透镜直接导入真空光室，实现光路直通,消除了光路损耗，提高检出限，测定结果，重现性及稳定性

特殊的光室结构设计，使真空室容积更小，抽真空速度不到普通光谱仪的半

自动光路校准，光学系统自动进行谱线扫描，确保接收的正确性，免除繁琐的波峰扫描工作。仪器自动识别特定谱线，与原存储线进行对比，确定漂移位置，找出分析线当前的像素位置进行测定

开放式的电极架设计，可以调整的样品夹，便于各种形状和尺寸的样品分析

工作曲线采用际标样，预做工作曲线，可根据需要延伸及扩展范围，每条曲线由多达几十块标样激发生成，自动扣除干扰

HEPS数字化固态光源，适应各种不同材料

固态吸附阱，防止油气对光室的污染，提高运行稳定性

1铜火花台底座，提高散热性及坚固性能

合理的氩气气路设计，使样品激发时氩气冲洗时间缩短，为用户节省氩气，氩气消耗不到普通光谱仪的半

采用钨材料电极，电极使用寿命更长，并设计了电极自吹扫功能，清洁电极更加容易

高性能DSP及ARM处理器，具有超高速数据采集及控制功能并自动实时监测光室温度、真空度、氩气压力、 光源、激发室等模块 的运行状况

仪器与计算机之间采用以太网连接，抗干扰性能好，外部计算机升级与仪器配置无关，使仪器具有更好的适用性

核心器件部原装进口，了仪器的品质

尺寸与重量

样品腔体积：320mm×100mm

外形尺寸：660mm×510mm×350mm

重量：65Kg