检测电子电镀,化学镀层厚度,如镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀钯...

仪器功能

全自动台面
自动雷射对焦
多点自动测量

XRF-2000镀层测厚仪

XRF2000镀层测厚仪,提供金属镀层厚度的测量，同时可对电镀液进行分析，不单性能优越,而且价钱*
同比其他牌子相同配置的机器，XRF2000为您大大节省成本。只需数钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果
甚至是多层镀层的样品也一样能胜任。全自动XYZ样品台，镭射自动对焦系统，十字线自动调整。超大/开放式的样品台，可测量较大的产品。可测量各类金属层、合金层厚度等。

可测元素范围：钛（Ti） – 铀（U）  原子序 22 – 92
准直器：固定种类大小:可选圆形0.1  0.2  0.3  0.4mm  方型1×0.4mm
自动种类大小:可选圆形0.1  0.2  0.3  0.4mm  方型0.05×0.4mm
综合性能:镀层分析  定性分析  定量分析  镀液分析 统计功能

将X射线照射在样品上

通过从样品上反射出来的第二次X射线强度来测量镀层等金属镀层的厚度。

金属镀层厚度的测量方法有多种，其中X射线荧光法是无接触无损测量

测量范围广，X射线法可测薄单镀层、双镀层、合金镀层，且不受底材影响。

各种金属或塑胶电子零件,五金工件,端子连接器等在加工后为

防止生锈，或者美观，或功能 会对零件表面镀铜镍银锌锡及锌镍合金等电解镀层

但由于工艺或技术问题，会出现有的地方镀的厚一些，有的地方薄一些

这样就会导致零件镀层厚度需要一种测厚仪，这种仪器就是镀层测厚仪

测量原理：

物质经X射线或粒子射线照射后，由于吸收多余的能量而变成不稳定的状态。从不稳定状态要回到稳定状态，此物质必需将多余的能量释放出来，而此时是以荧光或光的形态被释放出来。荧光X射线镀层厚度测量仪或成分分析仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度，来进行定性和定量分析。