X射线镀层测厚仪XRF-2020原理

X射线或粒子射线经物质照射后，由于吸收多余的能量而变成不稳定的状态。

从不稳定状态要回到稳定状态。

此物质必需将多余的能量释放出来，而此时是以荧光或光的形态被释放出来。

荧光X射线镀层厚度测量仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度来进行镀层厚度的测量及分析。

韩国MicroP XRF-2020膜厚仪

韩国MicroP XRF-2020膜厚仪

功能应用：

检测电子电镀,五金电镀,PCB板，LED支架半导体连接器等电镀层厚度。

测量镀金、镀锌、镀钯、镀铬、镀铜、镀银、镀锡、镀镍，镀锌镍合金等。

可测单层、双层、多层、合金镀层测量，不限底料

检测电子电镀,化学镀层厚度,如镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀钯...

仪器功能

全自动台面

     自动雷射对焦

     多点自动测量

XRF-2000镀层测厚仪

      XRF2000镀层测厚仪,提供金属镀层厚度的测量，同时可对电镀液进行分析，不单性能优越,而且价钱*
同比其他牌子相同配置的机器，XRF2000为您大大节省成本。只需数钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果
甚至是多层镀层的样品也一样能胜任。全自动XYZ样品台，镭射自动对焦系统，十字线自动调整。超大/开放式的样品台，可测量较大的产品。可测量各类金属层、合金层厚度等。

X射线镀层测厚仪XRF-2020