X射线镀层分析仪设备简介

X射线镀层分析仪是天瑞公司多年研发的一种镀层仪，它可以全自动地操作软件、进行多点测试、用软件控制镀层仪的测点和移动平台等，是天瑞公司研发的镀层仪。作为一个功能强大的仪器，配上门为其开发的软件，在电镀行业可谓大展身手。

工作特性。

能满足不同厚度样品及不规则表面样品的检测要求。

直径为0.1mm的小孔准直仪能够满足微小测试点的要求。

X射线镀层分析仪高动台可定位测量试验，重复定位误差小于0.005mm。

利用高度定位激光，对测试高度进行自动定位。

用定位激光器定位光斑，确保测试点与光斑一致。

滑鼠控制移动平台，滑鼠点击的位置即为被测点。

高分辨探针使分析结果更精确。

光线屏蔽效果好；

高灵敏度试验传感器保护装置。

技术性指标

模型：Thick800A。

从硫(S)到铀(U)都有元素分析。

可同时分析30多种元素，镀有五层。

测定含量通常在ppm至99.9%。

涂层厚度通常在50微米以内(每种材料各不相同)

X射线镀层分析仪可以任意选择多种分析识别模式。

互不相关的基体效应修正模型

多元非线性回收器。

该温度范围为15~30℃。

电力供应：交流220V±5V，建议配有交流净化稳定电源。

外形尺寸：576(W)×495(D)×545(H)mm。

样箱尺寸：500(W)×350(D)×140(H)毫米。

体重：90千克。

标准化配置

开放的试样室。

X射线镀层分析仪高精度二维移动采样平台，探测器和X光管上下移动，实现三维移动。

双重激光定位设备。

铅质玻璃罩

西-潘探测器

讯号探测电子电路

高、低压电源

X-光管

高感应器

防护传感器

电脑和喷墨打印机。

适用范围。

X射线镀层分析仪主要检测金属镀层的厚度，包括金层、镍层、锌层、银层、铜层等金属镀层的厚度。

测量金属镀层厚度，测定镀液及镀层含量。

贵金属及珠宝加工行业；银行、珠宝销售及检测机构；电镀行业。