X荧光镀层厚度分析仪开放式样品腔。 精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。 双激光定位装置。 铅玻璃屏蔽罩。 Si-Pin探测器。 信号检测电子电路。 高低压电源。 X光管。 高度传感器 保护传感器 计算机及喷墨打印机

应用域

X荧光镀层厚度分析仪同时应用于黄金，铂，银等贵金属和各种饰的含量检测. 金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。 主要用于贵金属加工和饰加工行业；银行，饰销售和检测机构；电镀行业。仪器介绍

X荧光镀层分析仪是天瑞集多年的经验，门研发用于镀层行业的款仪器，可自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。是款功能强大的仪器，配上门为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手。

性能特点

X荧光镀层厚度分析仪满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求 φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求 高精度移动平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm 采用高度定位激光，可自动定位测试高度 定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐 鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点 高分辨率探头使分析结果更加 良好的射线屏蔽作用 测试口高度敏感性传感器保护

技术指标

型号：Thick 800AX荧光镀层厚度分析仪元素分析范围从硫(S)到铀（U）。 次可同时分析多24个元素，五层镀层。 分析检出限可达2ppm，薄可测试0.005μm。 分析含量般为2ppm到99.9% 。 镀层厚度般在50μm以内（每种材料有所不同） 任意多个可选择的分析和识别模型。 相互独立的基体效应校正模型。 多变量非线性回收程序 多次测量重复性可达0.1% 工作稳定性可达0.1% 度适应范围为15℃至30℃。 电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。 外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm 样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm 重量：90kg

厂家介绍

江苏天瑞仪器股份有限公司成立于1992年，2011年上市，股票代码300165。
江苏天瑞仪器股份有限公司在设有110多个售后服务网点和遍布球的100多家代理机构。拥有行业内完善的售后服务体系。公司对客户4小时响应，24小时上门服务! 

 江苏天瑞仪器股份有限公司先后被授予 “家火炬计划重点技术企业”，“江苏省技术企业”，“江苏省软件企业”，“江苏省科技创新示范企业”，“江苏省规划布局内重点软件企业”，“江苏省光谱分析仪器工程技术研究中心”等荣誉称号。产品具有际先的技术水平，X荧光光谱仪系列产品被认定为“家重点新产品”和“江苏省技术产品”。产品品种齐，为环境保护与安、工业测试与分析及其它域提供业解决方案。