EDX荧光无损光谱镀层测厚仪
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详细内容
镀层厚度检测仪产品特点
样品处理方法简单或无处理
可**对样品做定性分析
EDX荧光无损光谱镀层测厚仪对样品可做半定量或准定量分析
谱线峰背比高,分析灵敏度高
不破坏试样,无损分析
试样形态多样化(固体、液体、粉末等)
设备、维修、维护简单
便捷、低廉的售后服务
Thick800AEDX荧光无损光谱镀层测厚仪是天瑞集多年的经验,研发生产的用于镀层行业的一款无损测试仪器,可全自动软件操作,可多点测试,由软件控制仪器的测试点,以及移动平台。是一款功能强大的仪器,配上为其开发的软件,在镀层行业中应用广泛。
EDX荧光无损光谱镀层测厚仪镀层仪器:Thick800A
测定步骤:
步:新建SnPb-Cu镀层厚度标准曲线
第二步:确定测试时间:40S
第三步:测试其重复性得出相对标准偏差
应用优势
电镀膜厚测试仪针对不规则样品进行高度激光定位测试点分析;
软件可分析5层25种元素镀层;
通过软件操作样品移动平台,实现不同测试点的测试需求;
配置高分辨率Si-PIN半导体探测器,实现对多镀层样品的分析;
内置高清晰摄像头,方便用户观测样品状态;
高度激光敏感性传感器保护测试窗口不被样品撞击。
天瑞为所售仪器提供拓展空间,在客户新产品研发所需检测的其它项目,天瑞的化学实验室可为客户提供*、**的样品分析。
热门标签:光谱镀层测厚仪