X射线光谱测厚仪器
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详细内容
X射线光谱测厚仪器硬件配置
采用高分辨率的SDD探测器,分辨率高达140EV进口的大功率高压,让Ag,Sn等镀层的测量能较加稳定。
配备微聚焦的X光管,犹如给发动机增加了涡轮增压,让数据的性较上层楼。
多种准直器可搭配选择:0.1*0.2mm;Φ0.15mm;Φ0.2mm;Φ0.3mm。贴心打造出适合您的那一款。
X射线光谱测厚仪器EDX 600 PLUS是天瑞仪器股份有限公司集多年X荧光测厚仪经验,门研发的一款下照式结构的镀层测厚仪。对工业电镀、化镀、热镀等各种镀层厚度进行检测。可广泛应用于光伏行业、五金卫浴、电子电气、航空**、磁性材料、汽车行业、通讯行业等域。
X射线光谱测厚仪器软件界面
人性化的软件界面,让操作变得较加便捷。曲线的中文备注,让您的操作较易上手。仪器硬件功能的实时监控,让您的使用较加放心。
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