1.精密度定义为同样品多次测定的平均值m和各次测定值mi之差。换句话说,精密度就是重现性(Reproducibility或Repeatability)。X荧光分析 的精度是和测量的时间有关的,测量的时间越长,则精度越高。 2.重复性定义为仪器测同款样品的连续测试十次或二十次的相对标准偏差。 3.度定义为各次测定值mi对于真值(t)的偏差。因而,若精密度差,度也定差。反之,度很差,精密度确有时很高。这是因为有时可能有系统误差的存在。要想性(Reliability)好,精密度和度都要求高。
4. 误差X荧光分析的误差往往是很难计算的,所以,通常情况下,把统计涨落引起的误差作为测量的误差。
5.检出限(Limit of detection)当获得背景强度标准偏差三倍以上的峰值强度时的元素含量,就称为检出限(或叫低检出限)。这时候,测到的含量的置信度(可信的程度)是99.87%.测定检出,般要用含量比较低的样品来测量。检出限因所用试样(基体)的不同而不同。
6.计数统计误差在放射性物质的测量中,假设仪器稳定性、机械在现性可确保,由仪器机械产生的误差可以忽略不计,但计数统计误差还是不能消除。X射线强度是把入射到计数器上的光子变成脉冲后计数而得到的。因而计数值在本质上具有统计误差。 被测X射线的计数值(N)的分布属于随机事件,其标准偏差由 N求出。 N就叫统计误差。时间越长,则相对偏差就越小,即精度就越高。
X荧光厚度测厚仪精密二维移动样品平台,探测器和X光管上下可动,实现三维移动。
双激光定位装置。
铅玻璃屏蔽罩。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
高度传感器
保护传感器
计算机及喷墨打印机
型号:X荧光厚度测厚仪Thick 800A
元素分析范围从硫(S)到铀(U)。
同时可以分析30种以上元素,五层镀层。
分析含量般为ppm到99.9% 。
镀层厚度般在50μm以内(每种材料有所不同)
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
X荧光厚度测厚仪多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
重量:90kg 标准配置 开放式样品腔。
1、X-RAY荧光测厚仪快速:般测量个样品只需要1~3分钟,样品可不处理或进行简单处理。
2、无损:物理测量,不改变样品性质
3、:对样品可以分析
4、直观:直观的分析谱图,元素分布幕了然,定性分析速度快
5、环保:检测过程中不产生任何废气、废水公司介绍
X荧光厚度测厚仪俗称X射线荧光测厚仪、镀层测厚仪、膜厚仪、膜厚测试仪、金镍厚测试仪、电镀膜厚仪等;精密测量金属电镀层的厚度;主要应用在:电路板、端子连接器、LED、半导体、卫浴洁具、五金电镀、珠宝饰、汽车配件、电阻电容、螺栓、螺母、弹簧类紧固件、PCB、FPC、LED、SMD、高压开关、天线、五金卫浴、汽车零部件、功能性电镀件、装饰品等,以及检测机构以及研究所和高等院校等。
X荧光厚度测厚仪采用高度定位激光,可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加
良好的射线屏蔽作用
满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高精度移动平台可定位测试点,重复定位精度小于0.005mm
测试口高度敏感性传感器保护
厂家介绍
江苏天瑞仪器股份有限公司是具有自主知识产权的高科技企业,注册资本49551.1725万。旗下拥有苏州天瑞环境科技有限公司、北京邦鑫伟业技术开发有限公司、深圳市天瑞仪器有限公司、上海贝西生物科技有限公司、天瑞环境科技(仙桃)有限公司、四川天瑞环境科技有限公司、河南省天瑞环境科技有限公司、厦门质谱仪器仪表有限公司、苏州智慧天瑞环保科技有限公司、湖北天之瑞智海创新研究院有限公司十家全资子公司和江苏国测检测技术有限公司、上海磐合科学仪器股份有限公司、沁水璟盛生活垃圾全资源化有限公司、雅安天瑞水务有限公司、安岳天瑞水务有限公司五家控股子公司。
总部位于风景秀丽的江苏省昆山市阳澄湖畔。公司业从事光谱、色谱、质谱等分析测试仪器及其软件的研发、生产和销售。