铁基镀镍测厚仪
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详细内容
铁基镀镍测厚仪应用:
铁基镀镍测厚仪用磁性传感器测量钢、铁等铁磁质金属基体上的非铁磁性涂层、镀层,例如:漆、粉末、塑料、橡胶、合成材料、磷化层、铬、锌、铅、铝、锡、镉、瓷、珐琅、氧化层等。用涡流传感器测量铜、铝、锌、锡等基体上的珐琅、橡胶、油漆、塑料层等。
滤光片:Al(可根据要求选配);8、高清晰摄像头:传感器类型:CCD(彩色);接口:U2.0;传感器厂商:索尼
铁基镀镍测厚仪主要特点:
1、测量数据数字化存储、图形显示,、直观,测量精度高。
2、*过三十八种以上的可测量镀层,以及所有导电性镀层。丝状线材和其它异形底材镀层;
3、实时动态显示电位变化曲线、可识别和测量合金层或其它中间层;
4、自动详细分析多层镍等类似镀层的电位差值及厚度,评价其耐腐蚀性能;
5、测量多层镍*三电系统,不用x-y记录仪,仪器***,使用*方便;
6、能分辨不同成份的镀层、评价镀层的均匀性,进而判定镀液的状况、添加剂的性能;
7、监视测量是否、详细分析测量数据,选择打印测量曲线和标准格式报告;
8、测量数据便于保存、随时调用,可以利用其它软件进行数据处理;
9、操作简便、迅速,*记忆测量种类代码等。仪器可自行检定;
10、软件*升,测量镀层种类不断增加。根据用户要求定制软件,或增加特别硬件。
铁基镀镍测厚仪技术参数:外观尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm;样品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm ;测试时,可开盖,对样品长度无限制;检测开槽口时,厚度10mm以上,宽度和深度没有限制。样品台尺寸:230(W)×210(D)mm;范围:50(X)mm, 50(Y)mm;Z轴升降平台升降范围:0-140mm;2、仪器重量:90kg;3、SDD半导体探测器:探测器输入电压:±12V,+5V;探头窗口面积:25mm-2---;探头窗口厚度:0.5mil分辨率:140±5eV;;探头内制冷温度:<-40℃;4、X射线光管:管压:5-50kV;管流:0-1;材:W;窗口:窗制冷方式:风冷;工作温度:≤75℃;5、高压发生器:输入电压:24V;输入电流:**;管压:0-50kV;管流:0-2;灯丝电压:5V;灯丝电流:3.**;;6、MCA多道分析器:;输入电压:±12V,+5V;;采样频率:100 KHZ
天瑞仪器有限公司生产的能量色散X荧光光谱仪系列在电镀检测行业中, 针对上述五项需求的应用:
(1)、对镀层膜厚检测、电镀液分析可分析;
(2)、对RoHS有害元素检测、重金属检测、槽液杂质检测、水质在线监测可进行*检测,检测环境里的重金属是否*标。
同时具有以下特点
*:1分钟可以测定样品镀层的厚度,并达到测量精度要求。
方便:X荧光光谱仪部分机型采用进口*上的电制冷半导体探测器,能量分辨率***eV,测试精度*高。并且不用液氮制冷,不用定期补充液氮,操作使用*加方便,并且运行成本比同类的其他产品*低。
无损:测试后,样品无任何形式的变化。
直观:实时谱图,可直观显示元素含量。
铁基镀镍测厚仪测试范围广:X荧光光谱仪,是一种物理分析方法,其分析与样品的化学结合状态无关。对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析,抽真空可以测试从Na到U。
**性高:由于测试过程无人为因素干扰,仪器自身分析精度、重复性与稳定性很高。所以,其测量的**性*高。
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