天瑞台式镀层测厚仪
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详细内容
天瑞台式镀层测厚仪被分析样品在X射线照射下发出的X射线,它包含了被分析样品化学组成的信息,通过对X射线荧光的分析确定被测样品中各组分含量的仪器就是X射线荧光分析仪。由原子物理学的知识,对每一种化学元素的原子来说,都有其特定的能级结构,其核外电子都以其特有的能量在各自的固定轨道上运行。天瑞台式镀层测厚仪内层电子在足够能量的X射线照射下脱离原子的束缚,成为电子,这时原子被激发了,处于激发态。此时,其他的外层电子便会填补这一空位,即所谓的跃迁,同时以发出X射线的形式放出能量。由于每一种元素的原子能级结构都是特定的,它被激发后跃迁时放出的X射线的能量也是特定的,称之为特征X射线。通过测定特征X射线的能量,便可以确定相应元素的存在,而特征X射线的强弱(或者说X射线光子的多少)则代表该元素的含量或厚度。天瑞台式镀层测厚仪是一种物理分析方法,其分析与样品的化学结合状态无关。对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析,抽真空可以测试从S到U。 可靠性高:由于测试过程无人为因素干扰,仪器自身分析精度、重复性与稳定性很高。所以,其测量的可靠性更高。 满足不同需求:测试软件为WINDOWS操作系统软件,操作方便、功能强大,软件可仪器状态,设定仪器参数,并就有多种的分析方法,方便满足不同客户不同样品的测试需要。电镀层镀层测厚仪它能检测出常见金属镀层厚度,无需样品预处理;分析时间短,仅为数几十秒,即可分析出各金属镀层的厚度;分析测量动态范围宽,可从0.005μm到50μm。电镀镀层测厚仪具有快速、准确、简便、实用等优点,广泛用于镀层厚度的测量、电镀液浓度的测量。镀层测厚仪它采用较新X射线荧光技术,具有精度高、示值稳定、功耗低、分辨率高、操作界面人性化等特点。其新增加的功能包括:成分分析,FP测试方法等,使仪器更加适合工业现场的工作需求,给客户提供了更多的便利。测试的数据不容易受到干扰,并且保证优良的精度、即使温度变化了也不会影响测量。保证了重复性。电镀镀层测厚仪是针对镀层厚度测量而精心设计的一款新型仪器。主要应用于:金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定;黄金、铂、银等贵金属和各种饰的含量检测。 SDD探测器。 信号检测电子电路。 高低压电源。 X光管。 高度传感器 保护传感器 计算机及喷墨打印机 应用领域: 黄金,铂,银等贵金属和各种饰的含量检测。 金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。 主要用于贵金属加工和饰加工行业;银行,饰销售和检测机构;电镀行业。X荧光镀层测厚仪性价比高:相比化学分析类仪器,X荧光光谱仪在总体使用成本上有优势的,可以让更多的企业和厂家接受。简易:对人员技术要求较低,操作简单方便,并且维护简单方便。天瑞一直于分析仪器事业,相信天瑞会为电镀行业的客户提供有竞争力的解决方案和服务。 X荧光镀层测厚仪特点-简易: 对人员技术要求较低,操作简单方便,并且维护简单方便。天瑞一直于分析仪器事业,相信天瑞会为电镀行业的客户提供有竞争力的解决方案和服