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产品展示

荧光测厚仪

点击次数:3388发布时间:2009/11/2 0:00:00

荧光测厚仪

更新日期:1900/1/1 0:00:00

所 在 地:美国

产品型号:MicronX

简单介绍:MicronX型荧光测厚仪是一种专门应用于半导体材料和电子器件领域的检测设备。

相关标签:测厚仪 测厚仪价格 MicronX 

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详细内容

   MicronX型荧光测厚仪是一种专门应用于半导体材料和电子器件领域的检测设备。 检测区域为50m~500um. 通过CCD 可放大图像达300倍。通过高精密度样品台可提供元素面分布图。 可对多达7层的涂层或镀层进行逐层厚度测量。

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