NETZSCH LFA 457 MicroFlash&\\#8482; 代表了当代激光闪射测量技术的*新进展。仪器为桌上型，温度范围 -100 ～ 1100℃。为了覆盖这一温度范围，提供了两种可自由切换的炉体。系统所使用的全新的红外传感器技术使得用户甚至可以在 -100℃ 的低温下测量样品背部的温升曲线。系统也能够测量较大体积的样品（直径 25.4mm），或使用内置的自动样品切换器在一次升温中对多个样品进行测量。真空密闭系统使得仪器可以在多种用户可选的气氛中进行测量。样品支架、炉体与检测器的垂直式排布方便了样品的切换，同时使得检测信号拥有*佳的信噪比。LFA 457 的设计符合各类标准，如 ASTM E-1461，DIN EN 821 或 DIN 30905。 仪器特点:    低温炉体：-125 ～ 500℃     高温炉体：RT ～ 1100℃     热扩散系数：0.01 ... 10 mm2/s     导热系数范围：0.1 ... 2000 W/（m＊K）     特殊样品支架：根据用户需要定制，用于测量粉末样品、液态样品或非标准尺寸的样品。 NETZSCH LFA 457 MicroFlash&\\#8482; 拥有非常出色的仪器控制与分析软件，在同类产品中颇为独特。对于检测器测得的温度-时间曲线的分析方法，用户能够在超过 15 种不同模型中进行选择，由此，几乎对所有的应用场合，如金属，陶瓷，聚合物，半透明材料或多层系统都能够以*优的方式进行分析。对大多数模型，都提供热损耗与有限脉冲修正，这对高精度的测试至关重要。这些模型建筑在非线性回归的基础上，将整条测量曲线（在 500 至 15000 个数据点之间）纳入计算。