XDL膜厚仪，运用C测量法能对测量距离修正，可以自动测量复杂的形状，大的线路板也可轻易的放在测量头及测量台之间的槽进行测量。XDL膜厚仪配备微焦距XRAY管，四个电动移动准值器，尺寸为圆形直径0.1MM；0.2MM；及方形的0.05MM*0.05MM；0.03MM*0.2MM，还有三个基本滤片选用，使光谱圈更合适分析，基本操作软件WINFTM V6 LIGHT，XDL膜厚仪可以同时间测量多至层镀层、或进行多至5元素的合金分析、又或是*多测量两个正离子的药水浓度测量分析。采用*新数学FP法，采用激光自动对焦，并配备有Z轴防冲撞传感器，可防止在对焦时造成一起的损坏。可适用于各种样品，从较厚的样品（机械零部件）之大型线路板（PCB）及电子元器件等，测试方向由下向上照射的设计是只需要对准量位置，而不需要调校焦距便可以进行测量。你的需求，便是我们的追求，期待您的来电，金霖电子华南地区总代理 吴小姐 手机：1 3 6 0 3 0 3 6 7 1 5    TEL：2 9 3 7 1 6 5 1  FAX：2 9 3 7 1 6 5 3 QQ：1 3 5 1 7 9 1 4 6 6  邮箱：www.kinglin5158@163.com   地址：宝安中心区宏发中心大厦