XAN -P膜厚仪一台款现代化桌上X射线光谱仪（EDXRF）。它特别为快速无损地分析珠宝首饰、贵金属而设计。这些首饰和贵金属包括黄白金，铂和银，铑，硬币以及所有的首饰合金和镀层。
XAN -P膜厚仪 测量准确，使用安全简便，并且不会对物品产生破坏，坚固耐用节省维护费用。而且，它符合标准DIN ISO 3497 和 ASTM B 568。高分辨硅-PIN-接收器，配合快速信号处理系统能达到极高的精确度和非常低的检测限。只需短短数秒钟，所有从17号元素氯到92号元素镭的所有元素都能准确测定。
无论您想测量未知样品还是测定未知材料，XAN -P膜厚仪配合优异的菲希尔 WinFTM? 运行软件都是您正确的选择。

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