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新型Zetatrac 纳米/Zeta电位分析仪

点击次数:1359发布时间:2009/11/2 0:00:00

新型Zetatrac 纳米/Zeta电位分析仪

更新日期:2012/3/8 16:46:51

所 在 地:美国

产品型号:Zetatrac

简单介绍:Microtrac公司于激光散射技术在颗粒粒度分布中的应用。早在1990年,Microtrac引入布朗运动的能谱概念,利用背散射和异相多谱勒频移技术,取代传统的光子相关光谱方法,将分析范围为延伸至0.003-6.5µm。

优质供应

详细内容

30多年来,Microtrac 公司一直于激光散射技术在颗粒粒度分布中的应用。作为行业的先锋,早在1990年,纳米颗粒分析仪器,NPA引入由于颗粒在悬浮体系中的布朗运动而产生的能谱概念,利用背散射Back-scattered和异相多谱勒频移Heterodyne Doppler Frequency Shifts技术,结合动态光散射理论和的数学处理模型,取代传统的光子相关光谱PCS,Photon Correlation Spectroscopy方法,将分析范围为延伸至0.003-6.5µm。随着技术的发展,Microtrac 公司不断完善其麾下的专业颗粒分析仪器,快速分析高浓度的纳米颗粒,生化材料及胶体体系成为现实,成为众多行业纳米分析的参考仪器。 
应用领域: 
有机聚和物和高分子研究,纳米金属和其他纳米无机物,结晶分析,表面活性剂胶束大小,蛋白质,甾体,DNA,RNA,极稀浓度或不宜稀释高浓度的样品分析。

主要特点

﹡ 的异相多谱勒频移Heterodyne Doppler Frequency Shifts技术,比较传统的多谱勒频
移分析方法,获得颗粒散射信号的强度高出几个数量级,提高分析结果的性
﹡ 的可控参比方法CRM, Controlled Reference Method,能精细分析多谱勒频移产生的能
谱,确保分析的灵敏度
﹡ 超短的颗粒在悬浮液中的散射光程设计,避免了多重散射现象,高浓度溶液中纳米颗粒测
试的性
﹡ 的“Y型”光纤光路系统,精确聚焦蓝宝石测量窗口,消除杂散光对检测器的负面影响

﹡ 的快速傅利叶变换算法FFT,Fast Fourier Transform Algorithm Method,迅速处理检
测系统获得的光谱,缩短分析时间
﹡ 引进“非球形”颗粒概念对米氏理论计算的校正因素,内置常用分析物质光学数据库,提
高颗粒粒度分布测试的性
﹡ 符合甚至部分超过ISO 13321 激光粒度分析标准-纳米分析部分
﹡ 符合甚至部分超过21 CFR PART 11 安全要求及FDA标准

技术参数

粒度范围:0.8纳米- 6.5微米
Zeta 电位测量:+/- 5mv
电泳迁移:+/- 0.4 μs/volt/cm
重复性:误差小于1%(标准颗粒)
测量原理:动态光背散射技术及米氏理论
技术:HDF,CRM,FFT,“Y”型光纤光路设计,“非球形”颗粒校正选项,微电场设计技术
检测角度:180º
浓度范围:0.1ppm – 40wt%
分析时间:30-120 秒
光源:3mW 780nm 半导体光纤
样品体积:0.2ml
操作软件:兼容Windows 98, 2000,NT, XP等
标准:ISO 13321
环境温度:10ºC to 35ºC
相对湿度:小于90%


 

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  • 会员类型:免费会员
  • 工商认证: 【未认证】
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  • 注册资金:人民币万

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