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Leitz ORTHOLUX-Ⅱ POL MK透反射偏光显微镜
仪器的用途：
ORTHOLUX-Ⅱ POL MK透反射两用偏光显微镜是地质、矿产、冶金等部门和相关高等院校*常用的专业实验仪器。用于不透明物明或半透明物体，可以同时采用透射光和反射光。
仪器特点：
透反射偏光显微镜ORTHOLUX-Ⅱ POL MK，随着光学技术的不断进步，作为光学仪器的偏光显微镜，其应用范围也越来越广阔，许多行业，如化工的化学纤维，半导体工业以及药品检验等等，也广泛地使用偏光显微镜。ORTHOLUX-Ⅱ POL MK透反偏光显微镜就是非常适用的产品，可供广大用户作单偏光观察，正交偏光观察，锥光观察以及显微摄影，配置有石膏λ、云母λ/4试片、石英楔子等附件，是一组具有较完备功能和良好品质的新型产品。本仪器的具有可扩展性，可以接计算机和数码相机。对图片进行保存、编辑和打印。
技术参数：
| 名称 | 规格 | |
| 无应力平场消色差物镜 | 透射物镜 | 6.3X 16X 25X 63X 100X |
| 反射物镜 | 5X 10X 20X 50X 100X | |
| 目镜 | 10X十字目镜 | |
| 试片 | 1—4λ试片 | |
| 石膏1λ试片 | ||
| 云母1/4λ试片 | ||
| 测微尺 | 0.01mm | |
| 滤色片 | 蓝色 | |
| 镜筒 | 三目观察 （可接数码相机、CCD） | |
系统简介
偏光显微镜系统是将精锐的光学显微镜技术、的光电转换技术、尖端的计算机图像处理技术完美地结合在一起而开发研制成功的一项高科技产品。可以在计算机显示器上很方便地观察偏光图像，从而对偏光图谱进行 分析等对图片进行输出、打印。
系统组成
Leitz ORTHOLUX-Ⅱ POL MK图像型透反射偏光显微镜：
1、Leitz ORTHOLUX-Ⅱ POL MK透反射偏光显微镜
2、适配镜
3、300万像素数码摄像器（COMS）
