V-Sorb 4800S容量法BET比表面测定仪简介

V-Sorb 4800S容量法BET比表面测定仪由金埃谱科技与兵器系统合作研发，是电池和纤维材料的比表面测定分析仪器，采用静态容量法测量原理，产品设计遵循标准,实现制造集成化,功能模块化,操作自动化和智能化。广泛适用于高校及科研院所材料研究和粉体材料生产企业产品质量检测，可用于催化剂材料比表面测定，吸附剂材料比表面测定，金属氧化物比表面测定等.

金埃谱科技是国内*早参与比表面积标准物质研制及标定的机构,测试结果与国外数据可比性平行性,并获取权威认证机构的检测证书,同时金埃谱科技也是国内同行业中注册资本规模,通过ISO9001认证的企业,雄厚实力和完善的质量及服务体系,让您选购的产品无后顾之忧!

V-Sorb 4800S容量法BET比表面测试仪特点

A.BET比表面测试仪真空系统

1）独创的一体化集装式管路系统,采用进口集装管路,显著减少管路连接点,大大降低漏气率,提高极限真空度;

2）模块化结构设计,一体式集装管路,需人工进行连接的部件少,有利于根据用户需求按需配置及后期功能扩展,有利于维修更换;

3）采用德国进口的真空泵,噪音小,运行稳定,防油返功能,极限真空度高,可达4x10-2Pa （3x10-4Torr）.

B.BET比表面测试仪控制系统

1）采用广泛应用于工业控制系统中的可编程控制器电磁阀控制系统,抗干扰能力强,稳定性大大提高,安装及拆卸都非常方便;

2）独特设计的测试系统管路和样品处理管路分离结构,防止样品处理过程中产生的杂质对测试管路的污染.

C.BET比表面测试仪提高测试精度措施

1）采用与同类进口产品相同品牌的高精度硅薄膜压力传感器,压力测量精度为相应读数的0.15％,远远优于0.15％的全量程精度（FS）传感器;

2）与国外同类产品类似,采用0－10Torr（可选）和0－1000Torr双压力传感器,对测试范围内的压力采用分段测量,大大降低了低真空下的测量误差,0－10Torr（可选）的硅薄膜压力传感器精度远高于相同量程的皮拉尼电阻真空计（一般误差为10%-15％）;

3）独创的一体化集装式管路系统,采用进口集装管路,显著减少管路连接点,大大减少死体积空间,有利于降低测量误差;

4）独创的步进式液氮面控制系统,确保测试全程液氮面相对样品管位置保持不变,消除因死体积变化引入的测量误差;

5）独特设计的抽气及进气控制系统,防止样品抽真空和进气过程中的飞溅,确保测试气路的清洁和样品质量无损失,保护高精度压力传感器免受压力巨变可能导致的零点和线性漂移.

D.BET比表面测试仪数据采集及处理

1）采用高精度及高集成度数据采集模块,连接方便,误差小,抗干扰能力;采用业界标准的485通讯模式,有利于设备扩展和互连,可方便转换为所需的RS232和USB通讯模式;

2）多种理论计算模型数据分析,为用户提供的材料分析方案;强大的测试数据归档保存,查询系统,有利于用户数据管理.

V-Sorb 4800S容量法BET比表面测试仪应用领域

1） 超微粉体，纳米材料，颗粒及纤维状材料比表面积分析测定；
2） 粉体材料生产及应用企业生产现场产品质量监测；
3） 高校及科研单位材料研究测试，吸附科学及BET理论教学实验；
4） 电池材料，催化剂，添加剂，吸附剂，陶瓷烧结材料，磁性材料，储能材料等相关性能测定；
5） 其它与材料表面性能相关的研究工作.
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