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ST2000薄膜厚度测量仪特点
1） 因为是利用光的方式，所以是非接触式，非破坏式，不会影响实验样品。
2） 可获得厚度和 n,k 数据。
3） 测量迅速正确，且不必为测量而破坏或加工实验样品。
4） 可测量3层以内的多层膜。
5） 根据用途可自由选择手动型或自动型。
6） 产品款式多样，而且也可以根据顾客的要求设计产品
7）可测量 PDP 上的膜厚度 （Stage size 6“ 8”, 12“ ...）
8）超大型Stage （PDP专用）
ST2000薄膜厚度测量仪产品规格/型号
| Stage Size | ~1700mm x 1200mm Automation Thickness Measurement |
| Measurement Range | 100?~ 50μ m（Depends on Film Type） |
| Spot size | 40μ m/20μ m/10μ m,μ光m |
| Measurement Speed | 1~2sec/site Typically |
| Application Areas | Polymers : PVA, PET, PP, PR ... |
| Option | Programmable Auto X-Y Stage |
| Function | Pattern Identification by Pattern Maching Entry-level CD Measurement |
