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薄膜测厚仪
点击次数：1580发布时间：2009/11/2 0:00:00
更新日期：1900/1/1 0:00:00
所 在 地：韩国
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详细内容
| 活动范围 | 150 x 120mm(70 x 50mm 移动距离) |
| 测量范围 | 200å~ 35μm(根据膜的类型) |
| 光斑尺寸 | 20å 典型值 |
| 测量速度 | 1~2 sec./site |
| 应用领域 | 聚合体: pva, pet, pp, pr ... 电解质: 半导体: poly-si, gaas, gan, inp, zns... |
| 选择 | 参考样品(k-mac or kriss or nist) |
| 探头类型 | 三目探头 |
| nosepiece | quadruple revolving mechanism with inward tilt |
| 照明类型 | 12v 35w halogen lamp built-in control device & transformer |
