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更新日期：2012/3/8 16:46:51
所 在 地：德国
产品型号：
简单介绍：SPEM是一项独特的分析工具，它结合了扫描探针技术(SPM)和成像椭偏技术。成像椭偏技术能很方便地可视化观察薄膜以及表面结构，而利用SPM技术可以把某些关注的点方大观察其纳米尺度细节。
联系人：王国男
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