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P.I.G.破坏式膜厚计
点击次数：173发布时间：2009/11/2 0:00:00
更新日期：1900/1/1 0:00:00
所 在 地：美国
产品型号：M-OG202J
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详细内容
P.I.G.破坏式膜厚计(铝钢外壳)
规格:测试范围:
No: 1 0 - 2500 um/ 一小格 20um
No: 2 0 - 1250 um/ 一小格 10um
No:10 0 - 250 um/ 一小格 2um
放大镜: 50倍(附光源)
组 成: 本体(含放大镜,有刻划)一台,刮刀 No:10 一支,皮套一个,笔一支,干电池二个
厂 牌: MICRO / 美国
