帕纳科的 X"Pert PRO材料研究衍射系统是X射线衍射研究*灵活的系统，用于：

·  材料科学和纳米技术
·  半导体生产过程的计量
 
可以适用各种应用，尤其适合薄膜分析，例如： 
 
·  振动曲线分析和交互空间图
·  反射仪和薄膜相分析
·  残余应力和织构分析
 
同已经证明的标准版本系统一样，还有许多专门的版本： 
 
· X"Pert PRO MRD平面衍射系统，可以测量与样品表面垂直的晶格衍射 
· X"Pert PRO Extended MRD 允许装备 X射线镜像和在线高分辨单色器，增强入射光束的强度。
· X"Pert PRO MRD XL 满足半导体，薄膜和工业材料的所有高分辨XRD分析需要。