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电阻式膜厚计

点击次数:656发布时间:2009/11/2 0:00:00

电阻式膜厚计

更新日期:1900/1/1 0:00:00

所 在 地:日本

产品型号:RST-231

简单介绍:1.绝缘物上的金属镀层(印刷基板上的铜箔、电镀等)都能在极短时间内(0.7秒)得到高精度的测量。〈br〉〈br〉〈br〉2.采用4探针探头(kelvin式),不受双面板和金属板之里层及内层影响,可得到高精度测量。〈br〉〈br〉〈br〉3.应用计算机操作画面大、明亮、清晰。〈br〉〈br〉〈br〉4.校正、测定、操作很简单,可选择2种测量范围,可测2~120um的金属镀层。

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特性:
1.绝缘物上的金属镀层(印刷基板上的铜箔、电镀等)都能在极短时间内(0.7秒)得到高精度的测量。
2.采用4探针探头(kelvin式),不受双面板和金属板之里层及内层影响,可得到高精度测量。
3.应用计算机操作画面大、明亮、清晰。
4.校正、测定、操作很简单,可选择2种测量范围,可测2~120um的金属镀层。
5.使用者姓名、批号可登录在频道内,共有40个频道可以登录且有利于做频道的管理。
6.每个频道的测量数据可以被储存下来,测量资料亦可以被其所设定之统计项目执行统计处理。
7.统计处理、柱状图、分布图、×-R管制图,随时可查阅。
8.可设定膜厚上下限管制,对异常值会提示告知。
9.探头的探针破损时,可以更换探针并以低价修理。 

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  • 注册资金:人民币万

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