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飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)

点击次数：1200发布时间：2009/11/2 0:00:00

飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)

更新日期：2012/3/8 16:46:51

所 在 地：日本

产品型号：

简单介绍：飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)

相关标签：离子质谱仪 离子质谱 

优质供应

详细内容

技术参数

1.空间分辨率：使用25千伏Ga脉冲离子束，使用PHI提供的监测结构，空间分辨率*120 nm
2.质量精确度: 在小于m/z = 100情况下，*2 mamu，在大于m/z = 100，<10 ppm
3.传输率: 40%的原子，90%的分子，数值由离子光学模拟计算得出。

主要特点

1.标准配置In,Ga离子枪，还可以选配Cs/O离子源和Au离子源
2.高灵敏度，高成像清晰度，无阴影效应
3.动态范围宽

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联系人：徐铭(小姐)

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企业档案

  • 会员类型：免费会员
  • 工商认证： 【未认证】
  • 最后认证时间：
  • 法人：
  • 注册号：
  • 企业类型：经销商
  • 注册资金：人民币万

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