联系我们

联系人:邹普红

点击查看联系方式

企业档案

  • 会员类型:免费会员
  • 工商认证: 【已认证】
  • 最后认证时间:
  • 法人:
  • 注册号:
  • 企业类型:经销商
  • 注册资金:人民币万

公司介绍更多>>

供应薄膜测量仪器-美国科学计算公司(SCI)供应薄膜测试仪器-美国科学计算公司(SCI)网址:www.sci-soft.comSCI FilmTek TM Systems(薄膜测量仪器测试功能说明)可测量:Index of Refraction折射指数(at 2μm thickness) Thickness Measurement Range 厚度测量范围Maximum Spectral Range 光谱范围Standard Spectral Range标准光谱范围Reflection反射测量Transmission透射测量Optional Spectroscopic Ellipsometry可选择的光谱椭圆偏光法测量Power Spectral Density功率谱密度测量Multi-angle Measurements (DPSD) 多角度测量Both TE & TM Components of Index Multi-layer thickness多层厚度测量Index of Refraction折射系数测量Extinction (absorption) Coefficient消光(吸收)系数Energy band gap能量带隙测量Composition成分测量Crystallinity晶状测量Inhomogeneous Layers非均匀层测量Surface Roughness表面粗糙度测量A variety of options can extend these st..

公司动态更多>>

深圳中电网技术有限公司为您推荐优质公司更多>>

script>
在线咨询

提交