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X荧光光谱仪
点击次数:719发布时间:2009/11/2 0:00:00
更新日期:2012/3/8 16:46:51
所 在 地:美国
产品型号:X-Met3000TXR+
优质供应
详细内容
牛津仪器发布了新型号的X-Met3000TXR+,它是一款快速、轻便的手持式XRF光谱仪。使用X-Met可以进行ROHS筛选性分析,它具有强大的测量时间开关控制功能,能够快速地定量分析数据结果,并自动判别管制标准,以不同色彩加以识别,减少了人为误判,为客户提供的测量工具。
手持式XRF分析仪是专门针对欧盟ROHS指令中有害元素-镉(Cd),汞(Hg),六价铬(Cr6+),多溴联苯(PBB),多溴联苯醚(PBDE)的筛选性分析仪。中国政府ROHS指令将在2007年3月1日正式生效,美国一些州的环境条例也正在准备实施,这款仪器在检测有害物质方面的巨大改进正及时满足市场的需求。
新的仪器采用了的帕尔帖PentaPINTM 探测器 –牛津仪器PentaFET®探测技术,它快速测量各种被测元素并提高其检测下限。在我们样品分析过程中总能碰到一些特殊的样品,由于其高规格的限制标准,比如镉元素,更低的探测下限是无法替代的。X-MET3000TXR+不但能做到这点,同时装备的时间控制开关,能够满足对这些ROHS样品分析过程中长时间的分析要求,为客户提供更加的数据结果。
对于 PentaPINTM 探测器来说,传统的硅(Si-PIN)探测器,三十秒测量一个样品所能达到的精度,新的探测器只需十秒就能同样达到,大大减少了测量时间。对于塑料样品的测量,能降低背体杂讯的吸收,相应增长其他元素的吸收率,改善了ROHS限制元素的检测下限。尤其针对铅和镉的探测下限,有着成倍的提高,其它元素也有了显著的改善。新的机型安装了的操作软件,用以处理新的探测技术所带来的数据处理,大大提高测量结果的度。
X-MET3000TXR+操作界面十分完整,针对ROHS分析,为使用者提供了塑料、金属和复合样品的不同分析方法。同时分析数据可用不同色彩加以标识,方便检测员快速判定样品是否合格还是不合格。在我们提供版本软件中,已添加了多种操作语言,比如,中文、俄语、德语、法语等多种语言供客户选择。
在样品分析过程中,客户所关心的辐射安全问题,牛津仪器可提供一种超大样品室同时具备安全锁桌面式的支架,供客户选择。当您在分析样品,X—MET3000TXR+就处于一种相对封闭空间,起到一种屏蔽作用,从实质上改善了X-射线对人体辐射的问题。
牛津仪器工业分析部Oxford Instruments Industrial Analysis
牛津仪器公司在XRF分析技术领域拥有超过35年经验,至今已有数以万计的各种仪器在世界各地服务于各行各业。这些仪器可以广泛地用于工业质量控制部门。XRF分析系统可以实现各种材料(固体、液体、粉末、糊状物、油脂、薄膜等)中元素组成的快速、无损检测。同时,也可实现样品表面涂镀层厚度或组成分析。
手持式XRF分析仪和移动式直读光谱仪ARC-MET是对现场合金分类及PMI测试、ROHS指定中有害元素的检测、质量控制尤为重要的工具。
Lab-X、Twin-X、ED2000 以及MDX1000各种XRF光谱仪应用于各种不同领域产品的日常分析。比如,石油产品的硫含量的分析,水泥中钙含量,我们都能提供性能超群的光谱仪来满足您的分析需求,因为我们具备多类产品共性选用。
对于各种不同薄膜的厚度测量要求,牛津仪器不但您提供各种不同型号的磁感和涡流的手持式测厚仪,同时还有各类高性能的XRF测厚仪。当前我们就推出款的XRF测厚仪X-Strata 960,供您选择。