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CMI 200系列CMI 243膜厚仪
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关键字:测厚仪,膜厚仪,涂层厚度,CMI 233测厚仪,电镀测厚,CMI150测厚仪,X射线荧光测厚仪
CMI 243是一款专门为测量磁性金属上的(如锌、镍等)涂镀层厚度而设计的便携式膜厚仪。独特的涡电流测试方法使测量更精确。配置的测量探头对细小的零件也可以精确测量。它具有X射线荧光的测量精度,同时也避免了库仑法对被测工件带来的破坏。CMI 243在设计上更加合理、、实用。
产品介绍
●ECP-M探头:锌、镍均可以测量
●度:±1%
●测量范围:0.08-1.50mils(2-38μm)
●分辨率:0.01mils (0.1μm)
●适用标准:符合ASTM B244—b259, DIN 50984,ISO 2360,ISO 29168(DRAFT), 以及BS 5411 part 3
●单位:英制和公制单位自动转换
●统计数据显示:读取次数,平均值,标准差,值,值,*终值
●记忆储存:12,400个数据储存
●接口:RS-232串行端口,波特率可调,可接打印机或计算机
●显示:液晶显示(LCD),字符高度1/2” (1.27cm)
●电池:9V干电池或可充电电池。
●尺寸:57/8” (L) ×31/8” (W)×13/16” (D) (14.9×7.94×3.02 cm)
●重量:9盎司/0.26kg, (包括电池重量在内)
●品牌及产地:英国牛津仪器;产地:美国
牛津仪器常驻中国机构提供售后服务和技术支持
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天友利标准光源有限公司
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