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技术文章
X射线荧光光谱仪整体配套解决方案
点击次数:1699 发布时间:2022/8/3 14:40:23
X-射线荧光光谱:作为一种比较分析技术,在较严格的条件下用一束X射线或低能光线照射样品材料,致使样品发射特征X射线。这些特征X射线的能量对应于各特定元素,样品中元素的浓度直接决定射线的强度。该发射特征X射线的过程称为X射线荧光或XRF.
产品指标 | 侧窗型X光管 MAGNUM系列 | 端窗型X光管 | |
MONOBLOCK系列 | MAGNUM 系列 | ||
光管类型 | 金属陶管 | 金属陶管 | 金属陶管 |
靶材 | W, Rh, Cu | Ag, W, Rh | Ag, W, Au, Pd, Ta, Rh |
管压范围 | 4-40kV | 4-50kV | 4-50kV |
管流范围 | 0-0.1mA | 0-0.2mA | 0-0.2mA |
输出功率 | 4W | 4W | 10W |
稳定性 | <1% RSD | <1% RSD | <1% RSD |
铍窗厚度 | 0.127mm | 0.25mm | 0.25mm |
光斑尺寸 | 300um | 400um | 400um |
重量 | 450g | 450g | 500g |
*大输入功率 | 7W | 7W | 20W |
是否带有高压线 | 是 | 否 | 是 |
Moxtek公司生产的Si-PIN探测器与全**更好的SDD生产商KETEK可以为XRF的用户提供性能优良,价格优惠的产品,用于工业生产及科学研究。
产品指标 | Si-Pin探测器 | SDD探测器 |
有效探测面积 | 6mm2与13mm2 | 7mm2-150mm2 |
可选系列 | XPIN-BT XPIN-XT | VITUS VIAMP AXAS-A AXAS-D AXAS-C1 AXAS-M 并可提供OEM模块化配件 |
能量分辨率 | 6mm2 ≤ 170eV 13mm2≤ 230eV | <129eV |
峰背比 | 6mm2 P/B > 3600 13 mm2 P/B > 3000 | LE型:> 15000 标准型> 10000 |
铍窗厚度 | 8um 或者 25um | 8um |
硅片厚度 | 625um | 450um |
SDD探测器
原创作者:先锋科技(香港)股份有限公司