英国PSEL劳厄单晶取向测试系统
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品牌名称：$brandModel.Title(进口品牌)型号： 原产地：中国大陆 发布时间：2019/12/20 16:23:35更新时间：2024/12/12 15:41:10
产品摘要：英国PSEL劳厄单晶取向测试系统：背散射劳厄测试系统，实时确定晶体方向，精度高达0.1度；
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详细内容
英国PSEL劳厄单晶取向测试系统：
- 背散射劳厄测试系统，实时确定晶体方向，精度高达0.1度；
- PSEL 软件定向误差低至 0.05度；
- 多晶硅片二维定向mapping；
- 大批量样品筛选；
- 超20kg重负荷样品定位
水平放置系统
| 特征 | 优点 |
| <200um 光束尺寸 | 可测量小 晶体 |
| 电动位移台 | 可沿生长轴轴向扫描 |
| 电动角位移 | 与同步加速器/中子设备直接兼容 |
| 手动角位移 | 与切割刀具直接兼容 |
垂直放置系统
| 特征 | 优点 |
| <200um 光斑 | 适用于小晶粒的多晶结构 |
| 大范围电动线性扫描位移台 | 允许自动晶圆mapping或多个样品 |
| 电动Z 轴驱动 | 适用大尺寸晶棒或样品 |
| 手动角位移 | 允许定位到+/- 0.02度精度 |
配备PSEL CCD 背反射劳厄X-RAY 探测器：
- 有效输入探测面约： 155*105 mm
- *小输入有效像素尺寸83um，1867*1265 像素阵列
- 可选曝光时间从1ms 到35分钟
- 芯片上像素叠加允许以牺牲分辨率为代价增强灵敏度
- 自动背景扣除模式
- 16位高精度采集模式
- 12位快速预览模式
- PSEL 劳厄影像采集处理专业软件
劳厄影像校准软件：
- 自动检测衍射斑点，并根据参考晶体计算斑点位置；
- 根据测角仪和晶体轴自动计算定向误差(不需要手动拟合扭曲的图形)
- 以CSV格式保存角度测量值，以进一步保证质量的可追溯性；
- 顶部到底部的终端用户菜单，允许资深结晶学用户自行逐步确认定位程序；
- 基于Python的软件，允许使用套接字命令对现有软件/系统进行远程访问控制；
系统附件包括：
- 劳厄X-RAY 探测器
- 劳厄校准软件
- 高亮度X-RAY 发生器
- 电动/手动 角位移台& 高精度位移台；
- 样本定位/视频监控 摄像头；
- 激光距离传感器/操纵杆
典型劳厄衍射应用图样：
劳厄单晶取向测试系统应用方向：
- 探测器材料： HgCdTe/CdTe, InGaAs, InSb;
- 窗口玻璃材料&压电/铁电陶瓷： Al2O3, Quantz，LiNbO3
- 金属合金： 钨，钼，镍基合金；
- 激光晶体材料： YAG, KTP, GaAs
- 薄膜/半导体基地材料： AIN, InP SiC;
- 磁性&超导材料: BCO/BSCCO/HBCCO, FeSe， NbSn/NbTi
- 闪烁体材料： BGO/LYSO, CdWO4, BaF2/CaF2;
热门标签：劳厄系统
