企业档案

  • 会员类型:免费会员
  • 工商认证: 【已认证】
  • 最后认证时间:
  • 法人:
  • 注册号:****
  • 企业类型:生产商
  • 注册资金:人民币**万

联系我们

联系人:王经理

点击查看联系方式

公司动态

超声波测厚仪测量时对工件和环境的要求(1)

点击次数:1157 发布时间:2012/5/4

测厚仪的分类:X射线测厚仪、纸张测厚仪、薄膜测厚仪、涂层测厚仪、在线测厚仪、超声波测厚仪、压力测厚仪、白光干涉测厚仪、电解式测厚仪、机械接触式测厚仪。超声波测厚仪测量时对工件和环境的要求: 1、被测物背面有大量腐蚀坑。由于被测物另一面有锈斑、腐蚀凹坑,造成声波衰减,导致读数无规则变化,在极端情况下甚至无读数。2、被测物体(如管道)内有沉积物,当沉积物与工件声阻抗相差不大时,测厚仪显示值为壁厚加沉积物厚度。3、当材料内部存在缺陷(如夹杂、夹层等)时,显示值约为公称厚度的70%,此时可用超声波探伤仪进一步进行缺陷检测。4、温度的影响。一般固体材料中的声速随其温度升高而降低,有试验数据表明,热态材料每增加100°C,声速下降1%。对于高温在役设备常常碰到这种情况。应选用高温专用探头(300-600°C),切勿使用普通探头。5、层叠材料、复合(非均质)材料。要测量未经耦合的层叠材料是不可能的,因超声波无法穿透未经耦合的空间,而且不能在复合(非均质)材料中匀速传播。对于由多层材料包扎制成的设备(像尿素高压设备),测厚时要特别注意,测厚仪的示值仅表示与探头接触的那层材料厚度。

各类测厚仪参考标准:

HG/T 3240-1987 搪瓷测厚仪技术条件   
HG/T 3240-2007 电脑膜层测厚仪   
HG/T 3241-1989 内孔涂层测厚仪技术条件   
HG/T 3241-2007 电脑内孔膜层测厚仪   
JJF 1126-2004 超声波测厚仪校准规范   
JJG (轻工) 87-1992 便携式地毯测厚仪检定规程   
JJG (轻工) 88-1992 数显式地毯测厚仪检定规程   
JJG 403-1986 超声波测厚仪   
JJG 480-1987 X射线测厚仪检定规程   
JJG 480-2007 X射线测厚仪检定规程   
JJG 818-1993 电涡流式测厚仪(试行)   
JJG 889-1995 磁阻法测厚仪   
NJ 372-1985 轮辋用测厚仪   
ZB N 13003-1987 搪瓷测厚仪技术条件   
ZB N 72023-1989 内孔涂层测厚仪技术条件   
ZB N 77001-1989 超声波测厚仪 通用技术条件
济宁易畅仪器仪表为您提供各种测厚仪。

相关产品

script>