38DL PLUS测厚仪是款开创超声测厚技术新时代的创新型仪器。这款手持式测厚仪可完美地适用于几乎所有超声测厚应用，而且与所有双晶和单晶探头完兼容。功能齐的38DL PLUS测厚仪可用于各种应用，包括使用双晶探头对内壁腐蚀的管件进行的管壁减薄的测量，以及使用单晶探头对薄壁或多层材料进行的其精确的壁厚测量。

38DL PLUS的标准配置带有很多既强大又易于使用的测量功能，以及些专用于某些特殊应用的软件选项。其密封机壳的设计符合IP67评级要求，可以抵御其潮湿或多沙尘的严酷的环境条件。彩色透反VGA显示功能使得测厚仪显示屏无论在明亮的阳光下还是在完的黑暗中都能具有佳的可视性。测厚仪的键区既简洁又符合人体工程学的要求。操作人员使用左手或右手即可轻易访问所有功能。

超声波测厚仪产品特点：

可与双晶和单晶探头兼容。

宽泛的厚度范围：0.08毫米～635毫米，根据材料和所选探头而定。

使用双晶探头进行腐蚀测厚。

穿透涂层和回波到回波测量功能，用于测量表面带有漆层和涂层的材料。

内部氧化层/沉积物软件选项。

对于所有探头，标准分辨率为0.01毫米。

使用频率范围为2.25 MHz～30 MHz的单晶探头，高分辨率软件选项可进行分辨率为0.001毫米的厚度测量。

多层软件选项可对多达4个不同层同时进行测量。

高穿透软件选项用于测量纤维玻璃、橡胶及厚铸件等具有高衰减性的材料。

厚度、声速和渡越时间测量。

差分模式和缩减率模式。

时基B扫描模式；每次扫查可获得10000个可查读数。

带有数字式过滤器的Olympus高动态增益技术。

用于自定义V声程补偿的V声程创建功能。

设计符合EN15317标准。

超声波测厚仪参数规格：

38DL PLUS超声测厚仪
测量
双晶探头测量模式	从激励脉冲后的精确延时到第个回波间的时间间隔。
穿透涂层测量模式	利用单个底面回波（使用D7906-SM和D7908探头），测量金属的实际厚度和涂层厚度。
穿透漆层回波到回波测量模式	在两个连续底面回波间的时间间隔，不计漆层或涂层的厚度。
单晶探头测量模式	模式1：激励脉冲与第个底面回波间的时间间隔。模式2：延迟线回波与第个底面回波间的时间间隔（使用延迟线式或水浸式探头）。模式3：在激励脉冲后，位于第个表面回波后的相邻底面回波间的时间间隔（使用延迟线式或水浸式探头）。氧化层模式：可选。多层模式：可选。
厚度范围	0.080毫米～635.00毫米，视材料、探头表面条件、温度和所选配置而定。
材料声速范围	0.508 mm/μs～13.998 mm/μs
分辨率（可选择）	低分辨率：0.1毫米标准分辨率：0.01毫米高分辨率（可选项）：0.001毫米
探头频率范围	标准：2.0 MHz～30 MHz（-3 dB）高穿透（可选项）：0.50 MHz～30 MHz（-3 dB）
般规格
工作温度范围	-10°C～50°C
键区	密封、以色彩区分功能的键盘，带有触感及声音反馈。
机壳	防撞击、防水、装有密封垫的机壳；机壳上的接口密封。设计符合IP67标准。
外型尺寸（宽 x 高 x 厚）	总体尺寸：125毫米x211毫米x46毫米
重量	0.814公斤
电源	AC/DC适配器，24 V；锂离子电池，23.760 Wh；或4节AA辅助电池。
锂离子电池供电时间	工作时间：少12.6小时，般14小时，多14.7小时。快速充电：2小时到3小时。
标准	设计符合EN15317标准。
显示
彩色透反VGA显示	液晶显示，显示屏尺寸：56.16毫米 X 74.88毫米
检波	波、RF波、正半波、负半波
输入/输出
USB	1.0从接口。
RS-232	有。
存储卡	大容量：2 GB外置MicroSD存储卡。
视频输出	VGA输出标准。
内置数据记录器
数据记录器	38DL PLUS通过标准RS-232串口或USB端口识别、存储、回放、清除、传输厚度读数、波形图像和仪器配置信息。
容量	475000个厚度测量读数，或20000个带厚度值的波形。
文件名称、ID编码及注释	32位字符的文件名，20位字符的字母数字位码，每个位有四个注释。
文件结构	9个标准的或自定义的用于特定应用的文件结构。
报告	机载报告总结了数据统计、带有位置信息的小值/大值、小值回顾、文件比较及报警报告。