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老化测试特征
点击次数：944 发布时间：2012/10/11
老化测试特点
广东在半导体业界闻名，但是器件的老化问题一直存在各种争论。像其他产品一样，半导体随时可能因为各种原因而出现故障，所以为您提供相关信息。老化就是通过让半导体进行超负荷工作而使缺陷在短时间内出现，避免在使用早期发生故障。如果不经过老化，很多半导体成品由于器件和制造工艺复杂性等原因在使用中会产生很多问题。
为了达到满意的合格率，几乎所有产品在出厂前都要先经过老化测试室进行老化试验。制造商如何才能够在不缩减老化时间的条件下提高其效率？本文介绍在老化过程中进行功能测试的新方案，以降低和缩短老化过程所带来的成本和时间问题。
老化工艺必须要确保工厂的产品满足用户对可靠性的要求，除此之外，它还必须能提供工程数据以便用来改进器件的性
