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剖面沉积物元素分析仪

点击次数:849发布时间:2011/10/27 15:55:24

剖面沉积物元素分析仪

更新日期:2013/2/20 14:28:41

所 在 地:欧洲

产品型号:

简单介绍:可测量的元素有Al、Si、S、Cl、K、Ca、Cr、Mn、Fe、Cu、Zn、As、Hg、Pb等,其中许多可测至痕量水平以下,对灵敏度和分辨率要求较高的研究尤其适合。系统可应用于环境污染调查、地质勘探、海洋研究等领域。

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详细内容

剖面沉积物元素分析仪结合了X-射线荧光分析(X-ray Fluorescence)和数字X-射线成像(digital x-ray micro radiography)技术,用于沉积物样柱(样芯)的非接触式测量,可用于土壤剖面、土芯、海洋或湖底的沉积物、岩石、洞穴堆积物(如钟乳石),泥炭块、岩芯等的密度和元素分析。可测量的元素有AlSiSClKCaCrMnFeCuZnAsHgPb等,其中许多可测至痕量水平以下,对灵敏度和分辨率要求较高的研究尤其适合。系统可应用于环境污染调查、地质勘探、海洋研究等领域。

原理:
剖面沉积物元素分析仪采用XRF和数字X-射线成像技术,非破坏性测量,获得样品高分辨率的数码图像,然后利用系统软件对所得图像信息进行分析。
 
系统特点:
      结合了XRF和数字X-射线成像技术
      可扫描分析沉积物岩芯等样品
      X射线荧光分析,提供Al以上的多种元素的浓度数据(Al – U
      实现多种元素同时检测
      XRF灵敏度达PPM
      X射线数字成像用于样品的分析
      10分钟即可完成1米样品的扫描分析
      稳定,,重现性好
      灵敏度和精确度高
      非接触式分析,不破坏样品
      可超负荷工作,每年可工作几千小时
 
 
系统组成:
X-射线发生器,显像管,扁平X光束光学系统,X光束调节器,样品台,样品槽,样品适配器,X-射线检测器,SDD硅漂移检测器,成像单元,冷却装置,两台计算机,软件,电源保护系统
 
技术指标:
1、测量原理:X-射线荧光分析和数字X-射线成像技术
2、分辨率:
X-射线:扁平光管光束0.2x20mm,其中0.2对应沉积物的长度方向。
X-射线荧光光束:0.1x20mm
X-射线成像分析,分辨率20μm  (订货时候光束大小)
3X 射线发生器功率:60 kV55 mA,功率3.3 kW
4、显像管:两个X-射线显像管(钼和铬),寿命2000h,功率2.2 kW(铬)和3.0 kW(钼)
5X-射线检测器:用于X-射线数字成像,含有1000个感应元件,每个感应元件拍摄20微米宽的样品图像,拍摄样品厚度60mm
6SDD硅漂移检测器:电子冷却,用于XRF检测,可以记录Al – U的任何元素的标识辐射,5.9 keV时,能量分辨率大约140 eV
7、成像单元:数字RGB彩色CCD光学摄像机和光学图像信息采集软件,光学分辨率100μm。摄像头以两种模式扫描,快速模式(分辨率500微米)和高分辨率模式(分辨率100μm),扫描图像宽约70mm
8X-射线防护装置:测量过程中,打开仪器时,X-射线自动关闭
9、样品台:自动样品台长1800mm,*小步进20μm,温度稳定时重现性好。
10、样品槽:样品槽带手动调节装置,可在据样品横截面中心线的五个不同的固定位置调整。五个位置是:中心,距中心10mm (左和右,距中心20mm (左和右
11、样品大小和形状:
1)劈开的、水平放置的沉积物样品,外径可达120mm
2)厚板状沉积物样品,厚度1-60mm宽度120mm
3U 形样品槽
4)木材生长锥样品、平板样品或圆盘样品,厚度1-60mm宽度120mm  
5)洞穴堆积物(如钟乳石)样品,厚度1-50mm宽度120mm  
6)测量长度*长1750mm 宽度120mm    
12控制单元:两台电脑及数据处理软件。包括扫描导航软件、Qspec软件(XRF光谱分析和元素浓度计算)、数据显示软件ReDiCore及所有其他硬件驱动程序。
13、冷却装置:冷却水泵
14、电源:建议配UPS
15、规格:4500×820×1570mm
16、重量:800kg
 
应用案例:
英国海洋中心和南安普顿大学地球化学领域科研人员,将剖面沉积物元素分析仪应用于东部地中海沉积泥的研究分析。
 
 
参考文献:
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