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HP8753D 网络分析仪

点击次数:221发布时间:2011/12/27 9:46:45

HP8753D 网络分析仪

更新日期:2013/1/11 17:38:56

所 在 地:欧洲

产品型号:求购/出售 HP8753D 网络分析仪HP8753D

简单介绍:另供应::网络分析仪: HP8712ET HP8712C HP8753ES HP8753D HP8720D HP8720ES E5071C N5230C N5230C N5222A N5242A N5264A E5072A N5221A N5241A N5264A E8362A E8363A E8364A E8361A E8362 E8363B E8364B N5230A HP8712ET HP8712ES HP8714ET HP8714ES HP8712B HP8713B HP8712C HP8714B HP8714C E5070A E5071A E5070B E5071B

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求购/出售 HP8753D 网络分析仪HP8753D 

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达110dB的动态范围
*快的测量速度和数据传递速率
*大屏幕LCD显示器加上供外部监视器用的VGA输出
*同时显示所有4个S参数
*将仪器状态和数据存储/调用到内置软盘驱动器
*可选用的时域测量和扫描谐波测量

HP 8753D射频网络分析仪为满足研制实验室或生产制造的测试需求,在速度、性能和方便使用上提供了无与伦比的结合。8753D以其覆盖3或6GHz频率范围的集成化S参数测试装置、达110dB的动态范围以及频率扫描和功率扫描,为表征有源或无源网络、元器件和子系统的线性和非线性特性提供了圆满的解决方案。所使用的新型微处理器使测量和数据传递速率比以往的型号快达7倍之多。 网络分析仪的特点是有2个独立的测量通道,可同时测量和显示所有4个S参数。
可以选择用幅度、相位、群延迟、史密斯圆图、极坐标、驻波比或时域格式来显示反射和传输参数的任意组合。便于使用的专用功能键能迅速访问各个测量功能。可以利用达4个刻度格子在高分辩率的LCD彩色显示器上以重叠或分离屏面的形式来观察测量结果。为了驱动更大的外部监视器,以便于观察,增加了与VGA兼容的输出。
较好的通用性和性能 一个集成化的合成源提供了达10mW的输出功率(用选件011可达100mW),1Hz的频率分辩率和线性频率,对数频率,列表频率,CW和功率扫描功能。三个调谐接收机可以在6GHz(带有选件006频率扩展)处105dB或3GHz(标准)110dB的宽动态范围内进行独立的功率测量或同时比值测量。集成化的测试装置可以在不使用倍频器的情况下,测量达6GHz装置的传输和反射特性。
为了在非同轴系统中进行方便而精确的测量,特提供了TRL*/LRM*1校准。利用内置适配器移去校准技术,还能实现对非插入式器件的高精度测量。高稳定度的频率基准(选件1D5)提高了对高Q器件,如表面声波(SAW)器件、晶体谐振器或介质谐振滤波器的频率测量精度。为了提高配置的灵活性,选件011取消了内置测试装置,以便能选择自己所需的测试装置。

Agilent 8753D|HP-8753D | HP8753D 3G|6G射频矢量网络分析仪300kHz-3G/6GHz

*频率范围:30kHz~3或6GHz
*带有固态转换的集成化S参数测试装置
*达110dB的动态范围
*快的测量速度和数据传递速率
*大屏幕LCD显示器加上供外部监视器用的VGA输出
*同时显示所有4个S参数
*将仪器状态和数据存储/调用到内置软盘驱动器
*可选用的时域测量和扫描谐波测量

HP 8753D射频网络分析仪为满足研制实验室或生产制造的测试需求,在速度、性能和方便使用上提供了无与伦比的结合。8753D以其覆盖3或6GHz频率范围的集成化S参数测试装置、达110dB的动态范围以及频率扫描和功率扫描,为表征有源或无源网络、元器件和子系统的线性和非线性特性提供了圆满的解决方案。所使用的新型微处理器使测量和数据传递速率比以往的型号快达7倍之多。 网络分析仪的特点是有2个独立的测量通道,可同时测量和显示所有4个S参数。
可以选择用幅度、相位、群延迟、史密斯圆图、极坐标、驻波比或时域格式来显示反射和传输参数的任意组合。便于使用的专用功能键能迅速访问各个测量功能。可以利用达4个刻度格子在高分辩率的LCD彩色显示器上以重叠或分离屏面的形式来观察测量结果。为了驱动更大的外部监视器,以便于观察,增加了与VGA兼容的输出。
较好的通用性和性能 一个集成化的合成源提供了达10mW的输出功率(用选件011可达100mW),1Hz的频率分辩率和线性频率,对数频率,列表频率,CW和功率扫描功能。三个调谐接收机可以在6GHz(带有选件006频率扩展)处105dB或3GHz(标准)110dB的宽动态范围内进行独立的功率测量或同时比值测量。集成化的测试装置可以在不使用倍频器的情况下,测量达6GHz装置的传输和反射特性。
为了在非同轴系统中进行方便而精确的测量,特提供了TRL*/LRM*1校准。利用内置适配器移去校准技术,还能实现对非插入式器件的高精度测量。高稳定度的频率基准(选件1D5)提高了对高Q器件,如表面声波(SAW)器件、晶体谐振器或介质谐振滤波器的频率测量精度。为了提高配置的灵活性,选件011取消了内置测试装置,以便能选择自己所需的测试装置。


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