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X-射线荧光镀层测厚及材料元素分析仪
点击次数：969发布时间：2009/11/2 0:00:00
更新日期：1900/1/1 0:00:00
所 在 地：德国
产品型号：
优质供应
详细内容
| HELMUT FISCHER制造用于镀层厚度测量和材料分析的X射线荧光系统有超过17年的经验。通过对所有相关过程包括X射线荧光测量法的精确处理和使用了*新的软件和硬件技术，FISCHER公司的X射线仪器具有其独特的特点。 的WinFTM®（版本3（V.3）或版本6（V.6））软件是仪器的核心。它可以使仪器在没有标准片校准并保证一定测量精度的情况下测量复杂的镀层系统，同时可以对包含多达24种元素的材料进行分析（使用WinFTM® V.6软件） 典型的应用范围如下：
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所有的设备遵循ASTM B568， DIN 60 987和 ISO 3497等国家和标准。
型号 XUL(M) XDL-B XDLM-C4 XDVM-W XDVM-µ 测量方向 从下往上 从上往下 从上往下 从上往下 从上往下 X-射线管型号 W 或 MW W MW MW MW 可调节的高压 有 有 有 有 有 开槽的测量箱体 有 有 有 有 有 基本Ni滤波器 有 有 有 有 有 接收器(Co) 有 有 有 数准器数目 W-类型: 1 1 4 4 1 z-轴 无 无，或电机驱动或可编程的 电机驱动的或可编程的 可编程的 可编程的 测量台类型 固定台面或可 固定台面 手动XY工作台或 可编程的XY工作台 可编程的XY工作台 测试点的放大倍率 38 - 184 x 20 - 180 x 20 - 180 x 40 - 568 x 30 - 1108 x DCM方法 有 有 有 WinFTM® 版本 V.3 标准 V.3 标准 V.3 标准 V.3 标准 V.6 标准 操作系统： 有 有 有 有 有
W: 钨管
MW: 微聚焦钨管
30kV; 40kV; 50kV
(可选择)
可选择的
WM-版本
WM-类型: 4
选的手动XY工作台
或
手动XY工作台或
可编程的XY工作台
可编程的XY工作台
(距离控制测量)
V.6 可选择
V.6 可选择
V.6 可选择
V.6 可选择
Windows XP prof.
