HORIBA XGT-1000WR主要技术指标：

              1、 分析元素：Si～U(Cd/Pb高精度型)；Na～U(任选：φ1.2 mm/φ0.1 mm切换方式型)

              2、 检测精度：Cd/Pb/Hg/Br≤2 ppm, Cr≤5 ppm

              3、 检测仓内部尺寸：460×360 mm(高150 mm)

              4、X射线照射径：φ1.2 mm(可选：φ1.2 mm/φ0.1 mm 切换)

              5、 检测器：高纯硅检测器 XEROPHY

              6、 设备重量：约 265 kg(不含桌子、计算机)

              7、 外形尺寸：分析部分：610(W)×750(D)×500(H)mm 

       8、 信号处理部：220(W)×500(D)×480(H)mm 

       9、可同时测量4层金属镀层的厚度。

                    HORIBA拥有堀场制作所拥有70多年的X射线分析技术沉淀，其在X射线分析技术及激光技术方面遥遥。特别是在能量色散XRF方面的XGT（X射线导向管聚焦）技术实现了微小面积、高X射线能量聚焦测量，确保了微区测量、快速测量、高精度测量。HORIBA XGT1000WR便是一款经典机型。其X荧光光谱仪在世界范围内被广泛推荐使用如Sharp,Philip,SONY,LG,JVC，NEC，HP等等，另有荷兰海关以及欧洲*富盛名的检测机构TUV莱茵公司也都使用HORIBA的荧光光谱仪。广泛应用于RoHS，ELV，WEEE欧盟环保指令的检测和过程控制